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GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法

2020-01-13 260

英文標準名稱：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

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　　北京中科光析科學技術研究所擁有完善的基礎實驗平臺,、先進的實驗設備,、強大的技術團隊、標準的操作流程,，可依據(jù)相應檢測標準為各企業(yè)提供基本指標參數(shù)測試、可靠性能試驗,、動物模型試驗,、環(huán)境模擬試驗等各種項目的分析測試服務，亦可根據(jù)各種檢測需求進行非標測試,。

概述

　　標準號：GB/T 27760-2011

　　中文標準名稱：利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法

　　英文標準名稱：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

　　實施信息反饋：該推薦性標準采用了ISO,、IEC等國際國外組織的標準，由于涉及版權保護問題,，本系統(tǒng)暫不提供在線閱讀服務,。如需正式標準出版物,，請聯(lián)系中國標準出版社,。

　　中國標準分類號(CCS)：N04————————國際標準分類號(ICS)：19.020

　　發(fā)布日期：2011-12-30——————————實施日期：2012-05-01

　　發(fā)布單位：中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會

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