參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

　　中析研究所可基于相應(yīng)的表面氧化層厚度測試標(biāo)準(zhǔn),，采用各種分析測試方法進(jìn)行檢測服務(wù)。同時(shí),，我們還能根據(jù)客戶的需求,，設(shè)計(jì)個(gè)性化的檢測方案，為客戶提供非標(biāo)準(zhǔn)檢測服務(wù),。

表面氧化層厚度測試項(xiàng)目

　　中析服務(wù)項(xiàng)目一般包括：表面形貌特征,、膜厚均勻性,、晶粒尺寸,、晶界清晰度、氧化物種類,、氧化層結(jié)構(gòu),、晶格畸變程度,、晶體取向、表面粗糙度,、殘余應(yīng)力分布,、氧化膜顏色、氧化層致密性,、氧化層成分分布,、氧化層硬度、氧化層電學(xué)性能等,。

表面氧化層厚度測試范圍

　　金屬類：鋁,、鋼鐵、鎂,、銅,、鋅、鎳,、鈦,、鉻、鎢,、錫等,。

　　合金類：不銹鋼、鋁合金,、鎳基合金,、鈷基合金、鈦合金,、銅合金,、鎳鉻合金、鐵鉻鋁合金,、鎳鈷合金,、鋁硅合金等。

　　陶瓷類：氧化鋁陶瓷,、氧化鋯陶瓷,、氧化硅陶瓷、氧化鐵陶瓷,、氧化鎂陶瓷,、氧化鈦陶瓷、氧化鉭陶瓷,、氧化銅陶瓷,、氧化鉻陶瓷、氧化銻陶瓷等樣品的檢測。

測試儀器

　　表面氧化層厚度測試相關(guān)儀器：

　　X射線衍射儀：可用于測試氧化層的晶體結(jié)構(gòu)和厚度,，非常精確。

　　掃描電子顯微鏡(SEM)：觀察氧化層的表面形貌和厚度分布,。

　　原子力顯微鏡(AFM)：用于表面形貌和膜厚的納米級測量,。

　　白光干涉儀：測量氧化層的厚度和膜厚均勻性,。

　　拉曼光譜儀：分析氧化層的結(jié)構(gòu)和成分,。

　　電化學(xué)工作站：用于測試氧化層的電學(xué)性能,。

　　光學(xué)顯微鏡：對氧化層進(jìn)行宏觀觀察和分析。

表面氧化層厚度測試標(biāo)準(zhǔn)

　　ASTM B487-1985(2013) 用橫斷面顯微觀察法測量金屬及氧化層厚度的試驗(yàn)方法

檢測流程

　　1,、提供在線咨詢和電話溝通服務(wù),。

　　2,、由專人負(fù)責(zé)發(fā)送對應(yīng)的實(shí)驗(yàn)室地址,，郵遞檢測樣品到本所實(shí)驗(yàn)室或上門采樣,。

　　3,、為您對接工程師,由工程師評估后報(bào)價(jià),，便捷實(shí)惠,。

　　4,、簽署委托書,，支付檢測所需費(fèi)用,，深入開展實(shí)驗(yàn),。

　　5,、約定時(shí)間完成檢測,，出具檢測報(bào)告,。

　　6,、郵寄檢測報(bào)告，專屬1V1售后服務(wù),。

　　工程師會根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn),、不同行業(yè)和不同國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)以及客戶的需求,，選取相應(yīng)的檢測項(xiàng)目和方法進(jìn)行表面氧化層厚度測試,。

中析儀器 資質(zhì)