參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

熔融溫度測(cè)定：DSC法測(cè)定范圍0-1800℃，精度±0.5℃,，符合ASTM D3418標(biāo)準(zhǔn)

動(dòng)態(tài)黏度分析：剪切速率0.01-1000 s?1,，溫度控制±0.1℃，依據(jù)ISO 2555規(guī)范

熱穩(wěn)定性評(píng)估：TGA法測(cè)定失重率（0.1μg分辨率）,，升溫速率1-50℃/min

相變動(dòng)力學(xué)研究：同步輻射XRD原位觀測(cè)晶格變化（2θ角5°-80°）

化學(xué)組分?jǐn)U散系數(shù)：EPMA電子探針微區(qū)分析（空間分辨率1μm）

檢測(cè)范圍

金屬合金體系：鋁合金/鈦合金熔體流動(dòng)特性分析

高分子材料：工程塑料熔融指數(shù)（MFI）測(cè)定

陶瓷材料：氧化物熔體表面張力測(cè)試

玻璃制品：熔融態(tài)粘度-溫度曲線繪制

復(fù)合材料：增強(qiáng)相與基體界面反應(yīng)監(jiān)測(cè)

檢測(cè)方法

差示掃描量熱法（DSC）：ASTM E794測(cè)定熔融焓變

旋轉(zhuǎn)流變法：ISO 6721-10表征非牛頓流體特性

高溫X射線衍射（HT-XRD）：ASTM E1426相結(jié)構(gòu)分析

激光閃射法（LFA）：ISO 22007-4測(cè)定熔融態(tài)熱擴(kuò)散系數(shù)

電子背散射衍射（EBSD）：ASTM E2627晶粒取向分析

檢測(cè)設(shè)備

TA Instruments Q2000 DSC：-90℃至725℃精密溫控,，具備調(diào)制溫度功能

Thermo Scientific HAAKE MARS 60流變儀：扭矩分辨率0.1nN·m，支持振蕩/旋轉(zhuǎn)復(fù)合模式

Malvern Panalytical Empyrean XRD：配備高溫腔室（最高1600℃）,，實(shí)時(shí)相變追蹤

NETZSCH LFA 467 HyperFlash：0.1mm2微區(qū)熱導(dǎo)率測(cè)量,，升溫速率1000℃/min

ZEISS Sigma 500 SEM-EDS/EBSD系統(tǒng)：1nm分辨率，支持熔融界面元素分布成像

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊(cè)號(hào)L1234）,，檢測(cè)數(shù)據(jù)國(guó)際互認(rèn)

配備Class 100潔凈檢測(cè)間,，溫濕度波動(dòng)±0.5%

檢測(cè)方法通過(guò)ISO/IEC 17025體系認(rèn)證，年校準(zhǔn)溯源率100%

16臺(tái)進(jìn)口設(shè)備均獲NIST可追溯校準(zhǔn)證書

技術(shù)團(tuán)隊(duì)含5名材料學(xué)博士,，累計(jì)發(fā)表SCI論文40+篇

中析儀器 資質(zhì)