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耦合損耗的定測試

2025-02-22 關鍵詞:耦合損耗的定測試項目報價,耦合損耗的定測試測試標準,耦合損耗的定測試測試周期 相關:
耦合損耗的定測試

耦合損耗的定測試摘要:耦合損耗測定是評估光通信器件連接性能的關鍵技術指標,,主要針對光纖連接器,、適配器及光模塊的插入損耗、回波損耗等參數(shù)進行定量分析,。本文依據(jù)ASTM,、ISO及GB/T系列標準,系統(tǒng)闡述檢測項目,、材料范圍,、測試方法及設備選型,重點涵蓋溫度循環(huán),、振動耐受性等動態(tài)環(huán)境下的損耗穩(wěn)定性驗證,為光通信系統(tǒng)可靠性評價提供技術依據(jù),。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

插入損耗測定:波長范圍1260-1625nm,測試精度±0.1dB,涵蓋FC/PC,、LC/UPC等6種接口類型

回波損耗分析:測試閾值-60dB至-20dB,,分辨率0.01dB,含端面三維形貌關聯(lián)分析

溫度循環(huán)損耗:-40℃至+85℃溫變循環(huán),,溫變速率5℃/min,,記錄100次循環(huán)后損耗偏移量

振動耐受性測試:頻率10-2000Hz,加速度30g,,三軸振動累計時長6小時

重復插拔穩(wěn)定性:機械壽命≥500次,,插拔力公差±0.5N,監(jiān)測損耗波動標準差

檢測范圍

單模光纖連接器:G.652D/G.657系列,,端面曲率半徑4-20mm

多模光纖組件:OM3/OM5等級,,芯徑50/125μm、62.5/125μm

光纖適配器:陶瓷/金屬復合結構,,插損≤0.2dB

光模塊組件:QSFP28,、SFP+封裝,速率10G-400G

特種光纖連接器:耐輻照型/深海應用型,,工作溫度-60℃~+150℃

檢測方法

ASTM D4566-14:采用可調(diào)諧激光源與光功率計組合法,,波長步進0.1nm,數(shù)據(jù)采樣間隔10ms

ISO/IEC 61753-1:2018:規(guī)定溫度-濕度復合試驗條件(85℃/85%RH),,持續(xù)168小時老化測試

GB/T 9771-2020:明確光纖連接器機械耐久性測試規(guī)程,,插拔角度偏差≤1°

IEC 61300-3-4:2012:定義回波損耗測量需配合消光比≥55dB的偏振控制器

GB/T 18311.3-2018:振動測試采用XYZ三軸順序加載法,單軸持續(xù)2小時

檢測設備

EXFO FTB-500光時域反射儀:動態(tài)范圍45dB,,波長精度±5pm,,支持雙向平均損耗計算

Keysight N7774C可調(diào)諧激光源:波長范圍1260-1630nm,輸出功率穩(wěn)定性±0.02dB

Viavi MTS-8000多參數(shù)測試平臺:集成IL/RL/POL測試模塊,,采樣率1MSa/s

ESPEC PL-3KPH溫循箱:溫度梯度控制±0.5℃,,支持JEDEC JESD22-A104標準

IMV KZ-200D振動試驗機:最大推力2000N,頻率控制精度±1%,,符合ISO 5344標準

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期:7~15工作日,可加急,。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案,。

售后:報告終身可查,,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析耦合損耗的定測試 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師

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