參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

弧面曲率半徑偏差：測(cè)量范圍±5%，精度±0.1μm

偏移角度公差：檢測(cè)范圍±3°,，分辨率0.01°

輪廓波動(dòng)量：允許閾值≤2μm（峰谷值）

軸向?qū)ΨQ度誤差：最大允許偏差±0.5°

表面粗糙度關(guān)聯(lián)性：Ra值檢測(cè)范圍0.05-6.3μm

檢測(cè)范圍

金屬精密加工件（航空航天發(fā)動(dòng)機(jī)葉片）

復(fù)合曲面玻璃（車載光學(xué)透鏡）

高分子注塑成型件（醫(yī)療器械密封環(huán)）

陶瓷基復(fù)合材料（半導(dǎo)體晶圓載具）

增材制造金屬部件（3D打印渦輪葉片）

檢測(cè)方法

ASTM E2919-14：非接觸式激光掃描法測(cè)定曲面偏差

ISO 10110-8:2020：光學(xué)元件表面形狀公差評(píng)估規(guī)范

GB/T 11336-2021：直線與圓弧要素幾何誤差檢測(cè)方法

ASME B89.4.19-2021：圓柱面與球面幾何特征測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 18779.2-2022：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)曲面檢測(cè)要求

檢測(cè)設(shè)備

Mitutoyo CRYSTA-Apex S 574：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),，配備RENISHAW PH20五軸測(cè)頭，空間精度1.9μm+L/250

Zygo Verifire MST：激光干涉儀,，波長(zhǎng)穩(wěn)定性±0.05ppm,，重復(fù)精度0.1nm

Taylor Hobson PGI Optics：非接觸式輪廓儀，垂直分辨率0.8nm,，掃描速度500點(diǎn)/秒

Hexagon Absolute Arm 7Axis：便攜式測(cè)量臂,，搭載LASER-LINE掃描頭，單點(diǎn)精度±0.025mm

Keyence VR-6000：三維形貌測(cè)量系統(tǒng),，Z軸分辨率0.1μm,，最大掃描范圍600×600mm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)