參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

平面度誤差：測(cè)量范圍0.01-5000mm，精度±0.1μm

表面粗糙度（Ra值）：檢測(cè)范圍0.001-100μm,，分辨率0.001μm

局部凹陷高度：閾值設(shè)定0.5-50μm,，采樣間距0.1mm

曲率半徑偏差：測(cè)量半徑0.1-10000mm，重復(fù)性誤差≤0.05%

邊緣平整度：檢測(cè)角度范圍±90°,，定位精度±0.01°

檢測(cè)范圍

金屬材料：鋁合金板材,、不銹鋼精密部件、鈦合金切削件

陶瓷材料：電子基板,、結(jié)構(gòu)陶瓷部件,、耐磨涂層

光學(xué)元件：棱鏡工作面、激光反射鏡,、光學(xué)窗口片

高分子材料：液晶面板,、工程塑料注塑件、半導(dǎo)體封裝基材

復(fù)合材料：碳纖維層壓板、陶瓷金屬復(fù)合裝甲,、光伏玻璃

檢測(cè)方法

激光干涉法：ISO 12781平面度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),，GB/T 11337-2004幾何誤差檢測(cè)

白光共聚焦掃描：ASTM F2459表面形貌表征，ISO 25178-2三維表面測(cè)量

接觸式探針測(cè)量：GB/T 3505-2009表面粗糙度參數(shù),，ISO 4287輪廓法標(biāo)準(zhǔn)

數(shù)字圖像處理：ASTM E3025自動(dòng)視覺檢測(cè),，GB/T 29558-2013非接觸式測(cè)量

相位偏折術(shù)：ISO 10110-5光學(xué)元件檢測(cè)，GB/T 2831-2009平板玻璃平整度

檢測(cè)設(shè)備

Taylor Hobson Talyrond 585圓度儀：集成激光干涉模塊,，平面度測(cè)量分辨率0.01μm

Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀：觸針式測(cè)量，符合ISO 4288標(biāo)準(zhǔn),，最大行程350mm

Zygo NewView 9000白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm,，支持ISO 25178全參數(shù)分析

Hexagon Leitz PMM-C 三坐標(biāo)機(jī)：配備SP25M掃描探頭，空間精度0.6+L/400μm

Keyence VR-6000三維輪廓儀：非接觸式測(cè)量,，掃描速度100mm/s,，Z軸重復(fù)精度0.05μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)