參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

特征峰位移量測定（±0.02 nm - ±0.5 nm）

半峰寬變化率分析（分辨率0.01 cm?1）

峰形對稱性指數(shù)計算（偏差閾值≤5%）

峰位穩(wěn)定性測試（溫漂系數(shù)＜0.001 nm/℃）

背景噪聲干擾評估（信噪比≥1000:1）

檢測范圍

半導(dǎo)體材料：硅晶圓,、GaN外延片、量子點薄膜

光學(xué)鍍膜材料：AR/IR濾光片,、高反膜系

金屬合金：形狀記憶合金,、高溫鎳基合金

納米材料：碳納米管、石墨烯復(fù)合材料

生物樣品：蛋白質(zhì)晶體,、DNA熒光標(biāo)記物

檢測方法

ASTM E1655-22 紅外光譜法測定分子振動峰位移

ISO 14707:2021 輝光放電光譜表面分析標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 223.5-2020 金屬材料X射線熒光檢測規(guī)范

ISO 21283:2018 拉曼光譜法測定晶格應(yīng)力

GB/T 39144-2020 納米材料紫外可見吸收檢測

檢測設(shè)備

Thermo Fisher Nicolet iS50 FTIR光譜儀：中紅外光譜分析,，4 cm?1分辨率

Bruker SENTERRA II拉曼光譜儀：532/785 nm雙激光源，空間分辨率1 μm

PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：軸向觀測等離子體,，檢出限0.1 ppb

Shimadzu XRD-7000 X射線衍射儀：Cu靶Kα輻射,，2θ精度±0.01°

Agilent Cary 7000紫外可見分光光度計：190-3300 nm波長范圍，0.1 nm步進

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)