偏置振蕩器測試
2025-02-26
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相關：
偏置振蕩器測試摘要：偏置振蕩器測試是評估電子元件頻率穩(wěn)定性與信號完整性的關鍵環(huán)節(jié),，主要針對頻率偏差,、相位噪聲、溫度特性等核心參數(shù)進行檢測,。需結合國際標準與精密儀器,，確保測試結果的可靠性與重復性,，適用于通信設備、精密儀器等領域的質量控制,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。
檢測項目
1. 頻率穩(wěn)定度：測試輸出頻率偏差范圍（≤±5 ppm，25℃條件下） 2. 相位噪聲：測量1 kHz偏移處噪聲水平（≤-120 dBc/Hz） 3. 溫度特性：-40℃至+85℃溫區(qū)內頻率漂移（最大±10 ppm） 4. 電源電壓容差：±5%電壓波動下的頻率變化（≤±2 ppm） 5. 啟動時間：從通電至穩(wěn)定輸出的時間（≤10 ms）檢測范圍
1. 石英晶體振蕩器（XO） 2. 溫度補償振蕩器（TCXO） 3. 壓控振蕩器（VCXO） 4. 恒溫晶體振蕩器（OCXO） 5. MEMS硅基振蕩器檢測方法
1. 頻率穩(wěn)定度：依據(jù)GB/T 12273-2017《石英晶體元件參數(shù)測試方法》第5.3節(jié) 2. 相位噪聲：采用ISO 18962:2019《電子元件相位噪聲測試規(guī)程》 3. 溫度循環(huán)測試：ASTM E230/E230M-23標準溫控程序 4. 電壓波動測試：GB/T 17626.11-2023電磁兼容試驗標準 5. 啟動特性分析：IEC 60122-3:2020第4.2.4章時序測量法檢測設備
北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版),。
檢測周期：7~15工作日,，可加急。
資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務,。
中析儀器 資質
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