參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

平面度誤差檢測(cè)：測(cè)量基準(zhǔn)面與理想平面偏差,，允許誤差≤0.5μm

表面粗糙度分析：Ra值范圍0.1-6.3μm,，Rz值范圍0.5-25μm

輪廓度偏差測(cè)量：三維輪廓精度±2μm/m

臺(tái)階高度檢測(cè)：0.01-50mm量程，分辨率0.1μm

角度偏差測(cè)定：0-360°測(cè)量范圍,，精度±0.005°

檢測(cè)范圍

金屬材料：鋁合金,、不銹鋼,、鈦合金等加工件

光學(xué)元件：透鏡、棱鏡,、反射鏡等鍍膜表面

電子元件：半導(dǎo)體晶圓,、PCB板、接插件觸點(diǎn)

塑料制品：注塑成型件,、薄膜材料

陶瓷材料：結(jié)構(gòu)陶瓷,、功能陶瓷基板

檢測(cè)方法

檢測(cè)設(shè)備

Talyrond 585圓度儀

徑向測(cè)量精度0.01μm，配備多探針系統(tǒng),，支持ISO 1101標(biāo)準(zhǔn)

Mitutoyo SJ-410輪廓儀

最大檢測(cè)長(zhǎng)度150mm,，Z軸分辨率0.01μm，符合JIS B0651規(guī)范

Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀

垂直分辨率0.1nm,，支持ASTM E2847標(biāo)準(zhǔn)

Zeiss Surfcom Flex 50A

粗糙度測(cè)量范圍Ra 0.01-50μm,，符合GB/T 3505標(biāo)準(zhǔn)

Keyence VR-5000三維掃描儀

點(diǎn)距分辨率1μm，支持ISO 25178表面紋理標(biāo)準(zhǔn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)