表面比較儀檢測
表面比較儀檢測摘要：表面比較儀檢測是精密制造領(lǐng)域的關(guān)鍵質(zhì)量控制手段,，主要用于測量材料表面幾何特征與形位公差。核心檢測參數(shù)包括平面度,、粗糙度,、輪廓精度等，需依據(jù)ISO,、ASTM及GB標準執(zhí)行,。本文系統(tǒng)闡述檢測項目、材料適用性,、方法標準及設(shè)備選型等技術(shù)規(guī)范,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
檢測項目
平面度誤差檢測：測量基準面與理想平面偏差,，允許誤差≤0.5μm
表面粗糙度分析：Ra值范圍0.1-6.3μm,，Rz值范圍0.5-25μm
輪廓度偏差測量：三維輪廓精度±2μm/m
臺階高度檢測：0.01-50mm量程，分辨率0.1μm
角度偏差測定：0-360°測量范圍,，精度±0.005°
檢測范圍
金屬材料：鋁合金,、不銹鋼、鈦合金等加工件
光學(xué)元件：透鏡,、棱鏡,、反射鏡等鍍膜表面
電子元件：半導(dǎo)體晶圓、PCB板,、接插件觸點
塑料制品：注塑成型件,、薄膜材料
陶瓷材料：結(jié)構(gòu)陶瓷、功能陶瓷基板
檢測方法
| 檢測項目 | 國際標準 | 國家標準 |
|---|---|---|
| 平面度 | ISO 12781:2011 | GB/T 11337-2004 |
| 粗糙度 | ASTM D7127-17 | GB/T 1031-2009 |
| 輪廓度 | ISO 12180-2:2018 | GB/T 1958-2017 |
| 臺階高度 | ASME B46.1-2019 | GB/T 10610-2009 |
| 角度偏差 | ISO 4292:2016 | GB/T 11334-2018 |
檢測設(shè)備
Talyrond 585圓度儀
徑向測量精度0.01μm,，配備多探針系統(tǒng),，支持ISO 1101標準
Mitutoyo SJ-410輪廓儀
最大檢測長度150mm，Z軸分辨率0.01μm,，符合JIS B0651規(guī)范
Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀
垂直分辨率0.1nm,，支持ASTM E2847標準
Zeiss Surfcom Flex 50A
粗糙度測量范圍Ra 0.01-50μm，符合GB/T 3505標準
Keyence VR-5000三維掃描儀
點距分辨率1μm,，支持ISO 25178表面紋理標準
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日，可加急,。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。
中析儀器 資質(zhì)
中析表面比較儀檢測 - 由于篇幅有限，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目,，請咨詢在線工程師
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