參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

碲（Te）含量測定：檢測范圍0.01%-30%,，精度±0.005%

汞（Hg）含量測定：檢測范圍0.001%-15%,，精度±0.0005%

雜質(zhì)元素分析：包括Fe、Cu,、Pb,、Zn等,，檢測限0.001%-5%

物相結(jié)構(gòu)鑒定：XRD半定量分析，分辨率≤0.02°（2θ）

粒度分布檢測：D50范圍0.1-500μm,，重復(fù)性誤差＜3%

有害物質(zhì)檢測：As,、Cd等重金屬，檢測限0.1-50ppm

檢測范圍

碲汞礦原礦：檢測主成分含量及伴生金屬分布

精礦產(chǎn)品：驗證Te/Hg品位及雜質(zhì)控制水平

冶金中間品：熔煉渣,、煙塵等物相與元素遷移分析

工業(yè)廢料：尾礦,、廢水中的Hg殘留監(jiān)測

環(huán)境樣本：土壤、沉積物的重金屬污染評估

檢測方法

X射線熒光光譜法（XRF）：ASTM D4294,，GB/T 16597

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：ISO 17294,，GB/T 3884.3

原子吸收光譜法（AAS）：GB/T 17139，汞冷原子吸收法

X射線衍射法（XRD）：ISO 20203,，JCPDS卡片比對

激光粒度分析：ISO 13320,，濕法分散技術(shù)

濕化學(xué)滴定法：GB/T 8152.3，碘量法測Te含量

檢測設(shè)備

Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析儀：現(xiàn)場快速元素篩查,，支持Hg/Te原位檢測

Agilent 7900 ICP-MS：超痕量元素分析,，檢測限達ppt級

Rigaku SmartLab X射線衍射儀：高分辨率物相分析，配備PDF-4+數(shù)據(jù)庫

Malvern Mastersizer 3000：干濕法粒度分析,，量程0.01-3500μm

PerkinElmer PinAAcle 900T AAS：石墨爐與火焰聯(lián)用,，支持Hg冷蒸氣模式

METTLER T5滴定儀：自動終點判定，精度±0.05mL

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準測試：嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)