參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

電阻率測(cè)量：范圍0.01μΩ·m至100μΩ·m,，溫度條件25±0.5℃

溫度系數(shù)測(cè)定：-50℃至+300℃溫區(qū)內(nèi)電阻變化率分析

導(dǎo)電均勻性檢測(cè)：表面電阻偏差值≤±5%

接觸電阻測(cè)試：端子間電阻≤0.1mΩ（電流100A）

絕緣電阻驗(yàn)證：金屬基體與涂層間電阻≥100MΩ（500V DC）

檢測(cè)范圍

工業(yè)純金屬：銅（Cu≥99.95%）,、鋁（Al≥99.6%）

合金材料：黃銅（Cu-Zn）,、康銅（Cu-Ni-Mn）

電子元件：PCB鍍層、連接器觸點(diǎn)

金屬鍍層：鍍金（≥0.1μm）,、鍍銀（≥2μm）

特種材料：高溫合金（Inconel 718）,、超導(dǎo)材料（YBCO）

檢測(cè)方法

ASTM B193-20：標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)體電阻測(cè)試方法

ISO 11876:2010：硬質(zhì)合金電阻率測(cè)定

GB/T 3048.2-2007：電線電纜電性能試驗(yàn)方法

IEC 60468:1974：金屬材料電阻率測(cè)量導(dǎo)則

GB 5237.6-2017：鋁合金建筑型材電性能檢測(cè)

檢測(cè)設(shè)備

KEYSIGHT 34465A六位半數(shù)字萬(wàn)用表：分辨率0.1μΩ，支持四線法測(cè)量

Lucas Labs 302-2四探針電阻測(cè)試儀：量程10μΩ至100kΩ,，符合ASTM F390

THERMOTRON S-1.2環(huán)境試驗(yàn)箱：溫控精度±0.3℃,，用于溫度系數(shù)測(cè)試

HIOKI RM2610高阻計(jì)：測(cè)量范圍1×10^4Ω至1×10^16Ω

SPECTRO TEST導(dǎo)電涂層分析儀：可測(cè)厚度0.1-200μm，分辨率0.01μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)