熒光磁粉探傷燈sc100手持式les黑光燈紫外線探傷燈檢測摘要:熒光磁粉探傷燈SC100手持式LES黑光燈是一種用于無損檢測的專業(yè)設(shè)備,,通過紫外線激發(fā)熒光磁粉顯示材料表面及近表面缺陷,。本文重點闡述其核心檢測項目、適用材料范圍、標(biāo)準(zhǔn)化操作流程及配套設(shè)備參數(shù),,涵蓋ASTME3022,、ISO3059及GB/T15822等規(guī)范要求,,為工業(yè)質(zhì)量控制提供技術(shù)依據(jù),。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
紫外線波長范圍:365nm±5nm
輻照度強(qiáng)度:≥1200μW/cm2(距離38cm處)
黑光濾光片透過率:≤1%可見光泄漏(400-700nm波段)
工作溫度范圍:-20℃至+50℃
連續(xù)工作時間穩(wěn)定性:±5%輻照度波動(4小時測試)
金屬鑄件:鑄鐵,、鑄鋼表面裂紋檢測
焊接件:T型焊縫未熔合缺陷識別
航空航天部件:鈦合金鍛件疲勞裂紋探查
汽車零部件:曲軸/連桿表面應(yīng)力腐蝕檢測
壓力容器:奧氏體不銹鋼焊縫滲透檢驗
ASTM E3022-18:紫外線強(qiáng)度校準(zhǔn)與測量程序
ISO 3059:2012:磁粉探傷環(huán)境可見光照度控制要求
GB/T 15822.1-2005:無損檢測磁粉檢測第1部分通用原則
GB/T 18851.3-2008:無損檢測滲透檢測第3步紫外光源驗證
EN ISO 9934-3:2015:磁粉探傷設(shè)備性能驗收標(biāo)準(zhǔn)
SC100手持式LES黑光燈:波長365nm,功率100W,輻照度范圍800-1500μW/cm2
Spectroline DM-365X紫外輻射計:測量精度±5%,量程0.1-19999μW/cm2
Teslong NTS500工業(yè)內(nèi)窺鏡:配合缺陷復(fù)檢,分辨率1280×720
SCHUNK MAG3000磁化裝置:周向磁化電流0-3000A可調(diào)
Amerflux 14E熒光磁粉懸浮液:顆粒度≤5μm,濃度1.5-2.5mL/100mL
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析熒光磁粉探傷燈sc100手持式les黑光燈紫外線探傷燈檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師
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