光強度調(diào)制檢測摘要:光強度調(diào)制檢測是通過量化光信號在傳輸或調(diào)制過程中的強度變化特性,,評估光學(xué)器件性能的核心技術(shù)手段,。檢測涵蓋調(diào)制深度、線性度,、頻率響應(yīng)等關(guān)鍵參數(shù),,適用于光纖通信組件,、激光器模塊及光電傳感器等材料的質(zhì)量控制與失效分析。需嚴(yán)格遵循ASTM,、ISO及GB/T標(biāo)準(zhǔn)方法確保數(shù)據(jù)可靠性,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
調(diào)制深度:測量范圍0.1%~99.9%,,分辨率±0.05%
頻率響應(yīng)帶寬:10 Hz~40 GHz,,誤差≤±1 dB
線性度偏差:非線性誤差≤0.5%(輸入功率1 mW~10 W)
上升/下降時間:測試范圍0.1 ns~10 ms,,精度±5 ps
消光比:動態(tài)范圍30 dB~60 dB,重復(fù)性±0.2 dB
光學(xué)薄膜及鍍層器件(如增透膜,、分光片)
光纖通信組件(包括調(diào)制器,、耦合器)
半導(dǎo)體激光器與LED光源模塊
光電傳感器及探測器陣列
液晶顯示背光模組與量子點材料
ASTM E275-08(2017):光學(xué)元件透射率與反射率測試規(guī)范
ISO 13695:2004:激光光源光譜特性與調(diào)制穩(wěn)定性測量
GB/T 15972.40-2021:光纖試驗方法第40部分-傳輸特性和光學(xué)特性的測量方法和試驗程序
IEC 60747-5-3:2020:光電子器件動態(tài)響應(yīng)測試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 26183-2010:發(fā)光二極管測試方法中光強分布及調(diào)制特性章節(jié)
安捷倫N7744A多端口光功率計:支持4通道同步測量,波長范圍1200~1650 nm
Tektronix DPO73304SX示波器:70 GHz帶寬,,用于ns級瞬態(tài)響應(yīng)分析
Newport 818-BB-35光電探測器:350~1800 nm光譜響應(yīng),,上升時間<1 ns
Siglent SSA3032X頻譜分析儀:9 kHz~3.2 GHz頻率范圍,RBW 1 Hz~3 MHz可調(diào)
Thorlabs PM100D光功率計探頭:覆蓋190~2500 nm波長,,功率測量精度±0.5%
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析光強度調(diào)制檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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