參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

衰減系數(shù)測(cè)試：波長(zhǎng)范圍1310/1550nm±10nm，測(cè)量精度≤0.03dB/km

帶寬特性分析：模態(tài)帶寬≥500MHz·km（多模）,，色散系數(shù)≤18ps/(nm·km)（單模）

幾何參數(shù)測(cè)量：纖芯直徑125±1μm,，包層同心度誤差≤0.5μm

抗拉強(qiáng)度測(cè)試：拉伸負(fù)荷≥50N（室內(nèi)光纜），≥150N（室外光纜）

溫度循環(huán)試驗(yàn)：-40℃~+70℃循環(huán)12次,，附加衰減變化量≤0.05dB/km

檢測(cè)范圍

單模通信光纖：G.652D/G.657A系列產(chǎn)品

多模漸變折射率光纖：OM3/OM4/OM5等級(jí)別產(chǎn)品

復(fù)合光纜組件：含4-144芯帶狀/束狀光纜結(jié)構(gòu)

光纖活動(dòng)連接器：LC/SC/FC/ST型接口器件

光分路器：PLC型1×8至1×64分光器件

檢測(cè)方法

IEC 60793-1-40:2019 光纖衰減系數(shù)截?cái)喾?/p>

GB/T 15972.20-2008 光纖幾何參數(shù)測(cè)試方法

ASTM D4566-19 光纜機(jī)械性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

ISO/IEC 14763-3:2014 光鏈路插入損耗測(cè)試規(guī)程

GB/T 7424.2-2021 光纜環(huán)境試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

OTDR測(cè)試儀EXFO FTB-200：動(dòng)態(tài)范圍45dB@1550nm,，事件盲區(qū)≤0.8m

光纖幾何分析儀Photon Kinetics PK3000：分辨率0.01μm，重復(fù)精度±0.02μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)