參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

壁厚測量：精度±0.1mm,，測量范圍0.5-50mm

焊縫質(zhì)量檢測：缺陷檢出率≥99%,，裂紋靈敏度0.1mm

材料成分分析：元素含量偏差≤±0.5%

腐蝕速率測定：分辨率0.001mm/a

氣密性測試：壓力保持0.8MPa±5%持續(xù)30min

殘余應(yīng)力測試：測量誤差≤±10MPa

表面粗糙度檢測：Ra值范圍0.4-12.5μm

檢測范圍

不銹鋼電解槽（304/316L/2205雙相鋼）

鎳基合金容器（Hastelloy C-276/C22）

鈦及鈦合金反應(yīng)槽（Gr1/Gr2/Gr5）

復(fù)合材料電解槽（PTFE/PFA襯里）

涂層防護(hù)體系（環(huán)氧樹脂/氟碳涂層）

塑料電解槽（PP/PVC/CPVC）

檢測方法

超聲波測厚：ASTM B244 / GB/T 11344

射線探傷：ISO 17636 / GB/T 3323

光譜分析：ASTM E1251 / GB/T 4336

電化學(xué)腐蝕測試：ASTM G59 / GB/T 24196

氦質(zhì)譜檢漏：ISO 20486 / GB/T 15823

X射線應(yīng)力測定：ASTM E915 / GB/T 7704

表面輪廓儀法：ISO 4287 / GB/T 3505

檢測設(shè)備

超聲波測厚儀：TM-8810（0.5-300mm量程）

相控陣探傷儀：奧林巴斯OmniScan X3（128陣元）

直讀光譜儀：ARL 3460（波長范圍165-670nm）

電化學(xué)工作站：CHI760E（±10V/2A輸出）

氦質(zhì)譜檢漏儀：Leybold UL200（靈敏度5×10?12 mbar·L/s）

X射線應(yīng)力儀：Proto LXRD（Cr靶Kα輻射）

三維表面輪廓儀：Bruker ContourGT-K（垂直分辨率0.1nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)