低溫光纜檢測
低溫光纜檢測摘要：低溫光纜檢測是評估光纜在極端低溫環(huán)境下性能穩(wěn)定性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，涵蓋機械性能,、光學特性及材料耐寒性等核心指標,。檢測需依據(jù)國際與國家標準,，通過專業(yè)設(shè)備驗證光纜在-60℃至-196℃范圍內(nèi)的衰減系數(shù),、拉伸強度,、彎曲損耗等參數(shù),，確保其在航空航天,、極地通信等場景的可靠性,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
低溫衰減系數(shù)：波長1310nm/1550nm下≤0.36 dB/km（-60℃至-196℃）
彎曲損耗：彎曲半徑10mm時附加損耗≤0.1 dB（-80℃）
拉伸強度：軸向拉力≥1500N（-100℃）
護套脆化溫度：通過-65℃±2℃低溫沖擊試驗無裂紋
溫度循環(huán)穩(wěn)定性：-196℃至+85℃循環(huán)20次后衰減變化≤0.05 dB/km
檢測范圍
單模/多模光纖復合低溫光纜
金屬加強芯非金屬光纜（ADSS）
聚酰亞胺涂覆耐輻射光纜
軍用級鎧裝低溫光纜
氟塑料護套超低溫特種光纜
檢測方法
ASTM D4565：光纜機械性能測試標準
ISO/IEC 60794-4：光纜環(huán)境性能試驗方法
GB/T 7424.2：光纜試驗方法第2部分：機械性能
GB/T 18311.4：光纖器件環(huán)境試驗第4部分：溫度快速變化
TIA-455-78C：光纖低溫彎曲損耗測試規(guī)范
檢測設(shè)備
Thermotron SM-32C溫度試驗箱：溫度范圍-70℃至+180℃，支持程序控溫
EXFO FTB-200 OTDR：動態(tài)范圍45dB@1550nm,，空間分辨率0.8m
Instron 5967萬能材料試驗機：最大載荷50kN,，溫控夾具支持-100℃測試
Agilent N7788B光譜分析儀：波長范圍1200-1650nm，分辨率0.02nm
Espec SC-LN2液氮深冷箱：最低溫度-196℃,，降溫速率≥10℃/min
北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日，可加急。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。
中析儀器 資質(zhì)
中析低溫光纜檢測 - 由于篇幅有限，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目,，請咨詢在線工程師
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