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低溫光纜檢測

2025-03-17 關(guān)鍵詞:低溫光纜項目報價,低溫光纜測試周期,低溫光纜測試案例 相關(guān):
低溫光纜檢測

低溫光纜檢測摘要:低溫光纜檢測是評估光纜在極端低溫環(huán)境下性能穩(wěn)定性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),涵蓋機械性能,、光學特性及材料耐寒性等核心指標,。檢測需依據(jù)國際與國家標準,,通過專業(yè)設(shè)備驗證光纜在-60℃至-196℃范圍內(nèi)的衰減系數(shù),、拉伸強度,、彎曲損耗等參數(shù),,確保其在航空航天,、極地通信等場景的可靠性,。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

低溫衰減系數(shù):波長1310nm/1550nm下≤0.36 dB/km(-60℃至-196℃)

彎曲損耗:彎曲半徑10mm時附加損耗≤0.1 dB(-80℃)

拉伸強度:軸向拉力≥1500N(-100℃)

護套脆化溫度:通過-65℃±2℃低溫沖擊試驗無裂紋

溫度循環(huán)穩(wěn)定性:-196℃至+85℃循環(huán)20次后衰減變化≤0.05 dB/km

檢測范圍

單模/多模光纖復合低溫光纜

金屬加強芯非金屬光纜(ADSS)

聚酰亞胺涂覆耐輻射光纜

軍用級鎧裝低溫光纜

氟塑料護套超低溫特種光纜

檢測方法

ASTM D4565:光纜機械性能測試標準

ISO/IEC 60794-4:光纜環(huán)境性能試驗方法

GB/T 7424.2:光纜試驗方法第2部分:機械性能

GB/T 18311.4:光纖器件環(huán)境試驗第4部分:溫度快速變化

TIA-455-78C:光纖低溫彎曲損耗測試規(guī)范

檢測設(shè)備

Thermotron SM-32C溫度試驗箱:溫度范圍-70℃至+180℃,支持程序控溫

EXFO FTB-200 OTDR:動態(tài)范圍45dB@1550nm,,空間分辨率0.8m

Instron 5967萬能材料試驗機:最大載荷50kN,,溫控夾具支持-100℃測試

Agilent N7788B光譜分析儀:波長范圍1200-1650nm,分辨率0.02nm

Espec SC-LN2液氮深冷箱:最低溫度-196℃,,降溫速率≥10℃/min

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析低溫光纜檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師

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