參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.沉降速率測定：測量顆粒在重力或離心力作用下的平均沉降速度（范圍0.1-100mm/min）

2.粒徑分布分析：基于Stokes定律計算等效粒徑（覆蓋0.1-300μm范圍）

3.密度梯度測試：確定懸浮液密度梯度曲線（分辨率0.001g/cm）

4.界面穩(wěn)定性監(jiān)測：記錄固液界面清晰度變化（時間分辨率1s）

5.沉降終點判定：測定完全沉降所需時間（最長72h監(jiān)控）

檢測范圍

1.金屬粉末：包括鈦合金,、鋁合金等增材制造原料

2.陶瓷材料：氧化鋁,、碳化硅等精密陶瓷前驅(qū)體

3.高分子顆粒：PVC、PE等聚合物微球

4.礦物粉體：碳酸鈣,、滑石粉等工業(yè)填料

5.復(fù)合材料：碳纖維增強樹脂基預(yù)浸料

檢測方法

ASTMB822-20：金屬粉末粒度分析的通用標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO13317-3:2021：沉降法測定粒度分布的離心技術(shù)規(guī)范

GB/T19077-2016：粒度分布激光衍射法通則

ASTMD422-63(2020)：土壤顆粒分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

GB/T21865-2020：分散體系穩(wěn)定性光學(xué)分析法

檢測設(shè)備

1.MalvernMastersizer3000：激光衍射粒度分析儀（測量范圍0.01-3500μm）

2.LUMiSizer650：離心式分散體系分析儀（最大轉(zhuǎn)速4000rpm）

3.MicromeriticsSedigraphIIIPlus：X射線沉降粒度儀（精度1%）

4.ShimadzuSA-CP4L：離心粒度分析系統(tǒng)（溫度控制0.1℃）

5.BrookhavenBI-DCP：圓盤離心粒度儀（動態(tài)范圍10nm-100μm）

6.CPSDC24000：圓盤離心沉降儀（24通道同步檢測）

7.SympatecHELOS/QUIXEL：動態(tài)圖像分析系統(tǒng)（分辨率0.5μm）

8.AntonPaarLitesizer500：納米粒度/Zeta電位分析儀（角度范圍15-175）

9.HoribaParticaLA-960V2：激光散射粒度儀（雙波長532/940nm）

10.BettersizeBT-9300ST：濕法激光粒度儀（超聲分散功率可調(diào)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)