參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 孔徑尺寸偏差：測(cè)量范圍Φ0.5-300mm±0.001mm

2. 圓度誤差：允許公差≤IT7級(jí)

3. 表面粗糙度：Ra 0.4-6.3μm

4. 錐度偏差：角度公差±0.05°

5. 微觀裂紋：最大允許深度≤50μm

檢測(cè)范圍

1. 金屬材料：不銹鋼/鋁合金/鈦合金精密鑄件

2. 工程塑料：PEEK/PTFE/POM注塑件

3. 復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物(CFRP)構(gòu)件

4. 陶瓷制品：氧化鋁/氮化硅燒結(jié)件

5. 汽車零部件：發(fā)動(dòng)機(jī)缸體/變速箱殼體

檢測(cè)方法

1. ASTM E3-11金屬材料金相分析方法

2. ISO 4287:1997表面粗糙度輪廓法測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

3. GB/T 1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)

4. ISO 1101:2017幾何公差標(biāo)注與驗(yàn)證規(guī)范

5. GB/T 1800.2-2020極限與配合公差標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo Crysta-Apex S三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：三維形位公差分析

2. Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡：500倍表面缺陷觀測(cè)

3. Taylor Hobson Form Talysurf i系列輪廓儀：Ra/Rz參數(shù)測(cè)量

4. ZEISS Axio Imager.M2m金相顯微鏡：2000倍微觀組織分析

5. Keyence IM-8000圖像尺寸測(cè)量?jī)x：非接觸式孔徑檢測(cè)

6. Hexagon Absolute Arm 7軸測(cè)量臂：大型工件現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)

7. Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀：納米級(jí)粗糙度分析

8] Agilent 5500 AFM原子力顯微鏡：亞微米級(jí)裂紋探測(cè)

9] Instron 68TM-10材料試驗(yàn)機(jī)：斷面力學(xué)性能測(cè)試

10] OGP SmartScope Flash 500多傳感器系統(tǒng)：復(fù)合參數(shù)自動(dòng)測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)