光波長檢測(cè)摘要:光波長檢測(cè)是光學(xué)材料與器件性能評(píng)價(jià)的核心環(huán)節(jié),,主要針對(duì)光源,、濾光片及光學(xué)鍍膜等產(chǎn)品的光譜特性進(jìn)行定量分析。關(guān)鍵檢測(cè)指標(biāo)包括峰值波長精度,、半高寬偏差及透射率穩(wěn)定性等參數(shù),,需依據(jù)ASTM、ISO及GB/T系列標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行規(guī)范化測(cè)試流程,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
1. 中心波長偏差:測(cè)量實(shí)際峰值波長與標(biāo)稱值的偏移量(±0.2nm精度)
2. 光譜帶寬(FWHM):測(cè)定半高寬數(shù)值(范圍200-1600nm)
3. 透射/反射率曲線:記錄400-2500nm波段內(nèi)能量分布特性
4. 波長重復(fù)性:連續(xù)10次測(cè)量同一光源的波長波動(dòng)值(≤±0.05nm)
5. 溫度漂移特性:在-40℃至85℃環(huán)境測(cè)試波長偏移量(±0.1nm/℃)
1. 光學(xué)玻璃基濾光片(帶通/長通/短通型)
2. 光纖布拉格光柵傳感器(FBG)
3. LED/LD半導(dǎo)體發(fā)光器件
4. 光學(xué)鍍膜元件(AR/IR/Metal Coating)
5. 光譜分析用標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)(SRM 2035系列)
ASTM E275-08(2017) 紫外-可見光譜儀性能驗(yàn)證規(guī)程
ISO 12005:2003 激光束波長與譜寬測(cè)量方法
GB/T 13394-2011 光學(xué)分光光度計(jì)檢定規(guī)程
GB/T 26179-2010 光源顯色性評(píng)價(jià)方法
IEC 62129-1:2016 波長/頻率測(cè)量儀器校準(zhǔn)規(guī)范
1. Agilent Cary 7000全能型分光光度計(jì)(190-3300nm全波段掃描)
2. Ocean Insight HR4000高分辨率光譜儀(0.1nm光學(xué)分辨率)
3. Yokogawa AQ6375E長波段光譜分析儀(1200-2400nm測(cè)試范圍)
4. Labsphere CDS610校準(zhǔn)積分球(直徑610mm均勻光源系統(tǒng))
5. Newport Oriel CS260單色儀(1200g/mm全息光柵配置)
6. Fluke PM6681銣鐘頻率計(jì)數(shù)器(5×10?12頻率穩(wěn)定度)
7. Thorlabs PM100D功率計(jì)探頭(200-11000nm寬譜響應(yīng))
8. Shimadzu MPC-3100多通道光電探測(cè)器陣列
9. Keysight N7744A多端口光功率計(jì)(C+L波段同步監(jiān)測(cè))
10. Bruker VERTEX 80v真空型傅里葉紅外光譜儀
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析光波長檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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