參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 硅含量測(cè)定：采用差減法計(jì)算SiO?含量（范圍15%-45%）

2. 錫主量分析：測(cè)定Sn含量（基準(zhǔn)值≥50%±0.5%）

3. 雜質(zhì)元素檢測(cè)：Pb（≤0.1%）,、Cu（≤0.05%）、As（≤50ppm）

4. 氧含量測(cè)試：惰性氣體熔融法測(cè)定總氧量（0.5%-3.0%）

5. 物理特性檢驗(yàn)：密度（6.5-7.5g/cm3）、熔點(diǎn)區(qū)間（220-250℃）

檢測(cè)范圍

1. 電子焊接工序產(chǎn)生的含錫廢渣

2. 冶金精煉過(guò)程分離的高硅浮渣

3. 金屬回收料中的混合錫基殘?jiān)?/p>

4. 合金鑄造行業(yè)廢棄的硅錫復(fù)合渣

5. 半導(dǎo)體晶圓加工產(chǎn)生的含錫研磨廢料

檢測(cè)方法

ASTM E1621-22：X射線熒光光譜法測(cè)定金屬基體元素

ISO 9507:2020 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法多元素分析

GB/T 223.5-2008 鋼鐵及合金化學(xué)分析方法還原型硅鉬酸鹽光度法測(cè)硅

GB/T 5121.27-2019 銅及銅合金化學(xué)分析方法第27部分：錫量的測(cè)定

ISO 15351:2016 惰性氣體熔融法測(cè)定金屬材料中氧含量

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Scientific ARL QUANT'X X射線熒光光譜儀：用于主量元素快速定量分析

PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：痕量雜質(zhì)元素ppm級(jí)檢測(cè)

LECO ONH836氧氮?dú)浞治鰞x：惰性氣體熔融法測(cè)定氧含量

Mettler Toledo XP205電子天平：稱量精度0.01mg的精密稱樣

NETZSCH STA 449F3同步熱分析儀：測(cè)定熔點(diǎn)與熱穩(wěn)定性參數(shù)

Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：廢渣顆粒分布特征分析

Sartorius MA37水分測(cè)定儀：105℃恒重法測(cè)游離水分含量

Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：物相組成與晶體結(jié)構(gòu)鑒定

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)