參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項(xiàng)目

1. 反向飽和電流密度：測量范圍1pA/cm2~10mA/cm2，精度±0.5%

2. 擊穿電壓閾值：測試電壓0~10kV,，步進(jìn)精度0.1V

3. 溫度特性曲線：-55℃~200℃溫控范圍內(nèi)漏電流變化率

4. 時間穩(wěn)定性測試：持續(xù)加載80%額定電壓下72小時電流漂移量

5. 動態(tài)響應(yīng)特性：納秒級脈沖反向電流上升/下降時間測量

檢測范圍

1. 半導(dǎo)體材料：硅基晶圓,、砷化鎵(GaAs)、碳化硅(SiC)襯底

2. 電子元件：高壓二極管,、IGBT模塊,、晶閘管器件

3. 光伏器件：太陽能電池PN結(jié)、薄膜電池組件

4. 絕緣材料：氧化鋁陶瓷基板,、聚酰亞胺薄膜

5. 特殊應(yīng)用器件：X射線管靶材,、粒子探測器電極

檢測方法

1. ASTM F1241-22《半導(dǎo)體器件反向漏電流標(biāo)準(zhǔn)測試規(guī)程》

2. IEC 60747-5:2020《分立器件-光電器件第5部分：擊穿特性測試》

3. GB/T 4937-2022《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》第12章

4. ISO 16750-4:2023《道路車輛電氣電子設(shè)備環(huán)境條件》電壓瞬變測試

5. JESD22-A108F《電子器件溫度-偏置壽命試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》

檢測設(shè)備

1. Keysight B1505A功率器件分析儀：最大10kV/1500A測試能力，支持μA級漏電流測量

2. Tektronix Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀：集成SMU模塊實(shí)現(xiàn)pA級微弱電流采集

3. Chroma 19032耐壓測試系統(tǒng)：符合IEC61010-1標(biāo)準(zhǔn)的5kVAC/6kVDC絕緣測試

4. ESPEC T-12恒溫恒濕箱：溫度波動度±0.3℃,，支持-70℃~180℃循環(huán)測試

5. Hioki ST5520表面電阻計：四端子法測量103~101?Ω范圍體電阻率

6. Fluke 1587 FC絕緣電阻測試儀：1000V DC下最高10TΩ測量精度

7. Agilent N6705B直流電源分析儀：20bit分辨率電壓/電流輸出模塊

8. Thermo Scientific CEDOX高壓探頭：100:1分壓比,，帶寬DC-100MHz

9. Omicron Bode100頻響分析儀：10μHz~40MHz阻抗特性分析能力

10. HIOKI PW3390功率分析儀：0.05%基本精度支持瞬態(tài)功率測量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)