參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 角度偏差測(cè)量：測(cè)量范圍±5°，分辨率0.001°,，重復(fù)性≤±0.05°

2. 表面粗糙度分析：Ra值檢測(cè)范圍0.01-10μm,，取樣長度0.25-8mm

3. 幾何尺寸公差：線性尺寸精度±0.01mm，角度公差±0.1°

4. 邊緣銳度評(píng)估：曲率半徑測(cè)量范圍R0.02-5mm,，誤差≤±2%

5. 材料均勻性檢測(cè)：折射率變化量Δn≤0.001,，厚度公差±0.005mm

檢測(cè)范圍

1. 金屬加工件：航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片安裝角、渦輪盤榫槽角度等

2. 光學(xué)元件：棱鏡頂角誤差,、透鏡楔形角偏差等

3. 電子元器件：半導(dǎo)體晶圓切割角度,、封裝基板倒角等

4. 注塑制品：模具分型面閉合角、頂出系統(tǒng)傾斜角等

5. 復(fù)合材料構(gòu)件：碳纖維鋪層角度偏差,、蜂窩結(jié)構(gòu)節(jié)點(diǎn)角等

檢測(cè)方法

1. ASTM D523-14(2018)：鏡面光澤度測(cè)定法評(píng)估表面光學(xué)特性

2. ISO 10110-5:2015：光學(xué)元件表面缺陷的定量檢測(cè)規(guī)范

3. GB/T 1804-2000：一般公差線性尺寸的未注公差等級(jí)

4. ISO 12181-1:2011：圓度測(cè)量術(shù)語與定義標(biāo)準(zhǔn)

5. GB/T 29531-2013：泵機(jī)械密封端面平面度檢驗(yàn)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：配備RENISHAW PH20五軸探頭系統(tǒng),，空間測(cè)量精度達(dá)(1.9+L/250)μm

2. Zygo Verifire HD激光干涉儀：波長穩(wěn)定性±0.05ppm，角度測(cè)量分辨率0.01arcsec

3. Taylor Hobson Form Talysurf PGI 1240輪廓儀：Z軸分辨率0.8nm,，最大掃描長度120mm

4. Olympus BX53M工業(yè)顯微鏡：配備20×~100×復(fù)消色差物鏡,，數(shù)碼成像分辨率2448×2048像素

5. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀：符合ISO 4287標(biāo)準(zhǔn)，評(píng)估長度最大17.5mm

6. PerkinElmer Lambda 950光譜分析儀：波長范圍175-3300nm,，角度分辨率0.002°

7. Instron 5967萬能材料試驗(yàn)機(jī)：載荷精度±0.5%,，配備20kN測(cè)力傳感器

8. Netzsch DIL 402 Expedis熱膨脹儀：溫度范圍-160~1550℃,，膨脹量分辨率0.125nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)