參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.晶面間距測定：采用Cu-Kα輻射（λ=1.5406）,，測量精度0.0001nm

2.物相定性分析：匹配ICDD-PDF4+數(shù)據(jù)庫（2023版），檢出限≤0.5wt%

3.殘余應(yīng)力計算：基于sinψ法,，測量范圍2000MPa,，分辨率10MPa

4.晶粒尺寸測定：Scherrer公式計算，有效粒徑范圍1-200nm

5.織構(gòu)取向分析：極圖測量步長0.5,，角度覆蓋范圍θ=10-80

檢測范圍

1.金屬材料：鋁合金（AA6061-T6）,、鈦合金（Ti-6Al-4V）的相組成分析

2.陶瓷材料：氧化鋯（YSZ）,、碳化硅（SiC）的晶體結(jié)構(gòu)表征

3.半導(dǎo)體器件：硅片（<100>/<111>取向）、GaN外延層的缺陷評估

4.高分子材料：聚乙烯（HDPE）結(jié)晶度測定（30-80%范圍）

5.地質(zhì)樣品：石英/長石礦物相的定量分析（RIR法）

檢測方法

ASTME975-20：X射線衍射法測定殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)實踐

ISO20203:2005：鋁生產(chǎn)用碳質(zhì)材料的結(jié)晶度測定方法

GB/T23413-2009：納米材料晶粒尺寸的X射線衍射線寬法

ASTMD5380-93(2021)：聚合物材料結(jié)晶度測定的試驗方法

GB/T8362-2018：鋼中殘余奧氏體的定量測定-X射線衍射法

檢測設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：配備9kW旋轉(zhuǎn)陽極靶,，支持θ-θ測角儀結(jié)構(gòu)

2.BrukerD8ADVANCEDavinci設(shè)計：配置LynxEye陣列探測器,，角度重現(xiàn)性0.0001

3.PANalyticalEmpyrean系統(tǒng)：具備PIXcel3D探測器，支持實時原位高溫附件（1600℃）

4.ShimadzuXRD-7000：配備石墨單色器,，Cu靶工作電壓40kV/30mA

5.ThermoScientificARLEQUINOX100：采用微區(qū)聚焦技術(shù),，最小光斑尺寸50μm

6.MalvernPanalyticalX'Pert3MRD：配置高分辨率光學(xué)模塊（HRXRD）

7.ProtoLXRD殘余應(yīng)力儀：便攜式設(shè)計，集成ψ角旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)

8.BrukerD2PHASER桌面衍射儀：配備LynxEyeXE-T探測器

9.RigakuMiniFlex600：配置SC-70超導(dǎo)探測器,，支持薄膜GIAB測量模式

10.AntonPaarXRDynamic500：集成濕度控制腔室（10-95%RH）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)