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介質(zhì)薄膜檢測

2025-04-09 關(guān)鍵詞:介質(zhì)薄膜測試案例,介質(zhì)薄膜測試周期,介質(zhì)薄膜測試標(biāo)準(zhǔn) 相關(guān):
介質(zhì)薄膜檢測

介質(zhì)薄膜檢測摘要:介質(zhì)薄膜檢測是評估功能性涂層材料性能的關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié),,主要針對光學(xué),、電子及防護(hù)領(lǐng)域的薄膜體系進(jìn)行理化特性分析。核心檢測指標(biāo)包括厚度均勻性,、折射率精度,、附著力強度、表面粗糙度及耐候性參數(shù),。本檢測需依據(jù)ISO,、ASTM及GB/T標(biāo)準(zhǔn)體系執(zhí)行,,確保數(shù)據(jù)可追溯性與行業(yè)適用性。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.膜層厚度:測量范圍0.1nm-50μm,,精度0.5%,采用非接觸式干涉測量

2.折射率分析:光譜范圍300-2500nm,,精度[email protected]

3.附著力測試:劃痕法臨界載荷0-200N,,壓痕法維氏硬度HV0.01-HV1

4.表面粗糙度:Ra值測量范圍0.1nm-10μm,橫向分辨率0.1μm

5.耐腐蝕性能:鹽霧試驗周期24-1000h,,溫度循環(huán)范圍-70℃~150℃

檢測范圍

1.光學(xué)鍍膜:包括增透膜,、反射膜、濾光片等光學(xué)元件

2.半導(dǎo)體薄膜:PVD/CVD沉積的金屬化層,、介質(zhì)層

3.柔性顯示膜層:ITO導(dǎo)電膜,、偏光膜、封裝阻隔膜

4.硬質(zhì)涂層:類金剛石(DLC),、氮化鈦(TiN)等工具鍍層

5.防腐涂層:船舶用環(huán)氧樹脂涂層,、航空鋁合金陽極氧化膜

檢測方法

1.ASTMB487-20橫截面法測定金屬鍍層厚度

2.ISO14703:2023掃描探針顯微鏡表面形貌分析

3.GB/T1771-2007色漆清漆耐中性鹽霧性能測定

4.ISO20502:2016陶瓷涂層界面結(jié)合強度劃痕測試法

5.ASTMF1044-05(2021)非破壞性光學(xué)膜厚測量標(biāo)準(zhǔn)

檢測設(shè)備

1.FilmetricsF40系列光譜橢偏儀:膜厚與光學(xué)常數(shù)同步測量

2.BrukerDektakXT臺階儀:垂直分辨率0.1的輪廓分析

3.ZEISSCrossbeam550聚焦離子束電鏡:納米級截面制備與觀測

4.CSMRevetest劃痕測試儀:最大載荷50N的界面結(jié)合強度評估

5.ThermoScientificARLEQUINOX3000X射線衍射儀:晶體結(jié)構(gòu)分析

6.Keysight5500原子力顯微鏡:三維表面形貌表征

7.Q-LabQ-FOGCRH鹽霧試驗箱:循環(huán)腐蝕環(huán)境模擬

8.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度計:250-2500nm透反射率測試

9.MTSNanoIndenterG200:納米壓痕模量測量系統(tǒng)

10.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡:120nm橫向分辨率表面分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,,可加急,。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案,。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析介質(zhì)薄膜檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師

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