參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 相鄰道間距偏差：測(cè)量精度±0.5μm（0.001-10mm量程）

2. 累積誤差率：全行程內(nèi)誤差≤0.02%/100mm

3. 軌道平行度偏差：軸向偏移量≤3μm/300mm

4. 表面粗糙度：Ra值0.1-1.6μm（ISO 4287標(biāo)準(zhǔn)）

5. 溫度穩(wěn)定性：±0.8μm/℃（-20℃至80℃工況）

檢測(cè)范圍

1. PCB電路板：導(dǎo)通孔與線路間距（0.05-0.5mm）

2. 直線導(dǎo)軌系統(tǒng)：滾珠循環(huán)軌道（寬度8-50mm）

3. 半導(dǎo)體封裝基板：BGA焊盤陣列（間距0.3-1.27mm）

4. 光學(xué)編碼器光柵尺：刻線密度20-100線/mm

5. 精密絲杠副：螺紋導(dǎo)程（2-40mm）

檢測(cè)方法

1. ASTM E284-22《Standard Terminology for Surface Analysis》

2. ISO 1101:2017《Geometrical product specifications (GPS)》

3. GB/T 1800.1-2020《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)線性尺寸公差》

4. ISO 4287:1997《表面結(jié)構(gòu):輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》

5. GB/T 11336-2004《直線度誤差檢測(cè)》

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（三維空間定位精度±1.2+L/300μm）

2. Keyence LM-9000激光位移計(jì)（分辨率0.01μm/量程50mm）

3. Zeiss O-INSPECT 322復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)（光學(xué)+接觸式復(fù)合探頭）

4. Renishaw XL-80激光干涉儀（線性測(cè)量精度±0.5ppm）

5. Taylor Hobson Form Talysurf PGI NOVUS輪廓儀（Z軸分辨率0.8nm）

6. Hexagon Absolute Arm 7軸便攜測(cè)量臂（空間精度15μm）

7. Nikon NEXIV VMZ-S656T視頻測(cè)量系統(tǒng)（放大倍率35X-220X）

8. Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦顯微鏡（橫向分辨率120nm）

9] Agilent 5530動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)儀（頻率響應(yīng)范圍0-100Hz）

10] Panasonic HG-C1050光電編碼器（分辨率1μm/重復(fù)精度±2μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)