參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 平均厚度測(cè)量：測(cè)量點(diǎn)≥10個(gè)/㎡,，允許偏差±5%

2. 最小局部厚度：采用網(wǎng)格法掃描檢測(cè)（網(wǎng)格間距≤5mm）

3. 厚度均勻性：CV值≤8%（按GB/T 13541-2009計(jì)算）

4. 介電強(qiáng)度關(guān)聯(lián)測(cè)試：厚度每減少10%，擊穿電壓下降≥15%

5. 熱收縮率：105℃/24h條件下收縮率≤3%（ASTM D2671）

檢測(cè)范圍

1. 電力電纜：交聯(lián)聚乙烯（XLPE）絕緣層（0.8-35kV等級(jí)）

2. 電子元件：聚酰亞胺薄膜涂覆層（厚度25-150μm）

3. 變壓器繞組：Nomex?紙復(fù)合絕緣（標(biāo)稱厚度0.13-0.25mm）

4. 電機(jī)定子：云母帶繞包絕緣（單層厚度0.08-0.15mm）

5. 高壓套管：硅橡膠傘裙（基體厚度≥3mm）

檢測(cè)方法

1. 機(jī)械測(cè)厚法：ASTM D374-99（電極直徑6mm±0.01mm）

2. 超聲波測(cè)厚法：ISO 2808 Type A（頻率5MHz±0.5MHz）

3. 光學(xué)顯微法：GB/T 13541-2009（放大倍數(shù)50-200X）

4. X射線測(cè)厚：IEC 60502-2（分辨率±2μm）

5. 電壓擊穿法：GB/T 1408.1-2016（升壓速率500V/s）

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo千分尺293-831：量程0-25mm,，分辨率1μm（機(jī)械測(cè)厚）

2. Olympus 38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀：頻率1-10MHz可調(diào)（非破壞測(cè)量）

3. Keyence VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000萬(wàn)像素CMOS（斷面分析）

4. Thermo Fisher ARL EQUINOX 100 X射線熒光儀：檢出限0.1μm（多層結(jié)構(gòu)測(cè)量）

5. Hipotronics ACW-30KV耐壓測(cè)試儀：精度±1%（介電強(qiáng)度試驗(yàn)）

6. Instron 5944萬(wàn)能材料機(jī)：載荷分辨率0.005N（機(jī)械強(qiáng)度關(guān)聯(lián)測(cè)試）

7. Netzsch DSC 214差示掃描量熱儀：溫度精度±0.1℃（熱收縮分析）

8. Agilent 4294A阻抗分析儀：頻率范圍40Hz-110MHz（介電常數(shù)測(cè)試）

9. Elcometer 456涂層測(cè)厚儀：磁感應(yīng)原理（金屬基材絕緣層測(cè)量）

10. Zeiss Sigma 500場(chǎng)發(fā)射電鏡：分辨率0.8nm@15kV（微觀缺陷分析）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)