參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.配位鍵鍵長(zhǎng)測(cè)定：精度0.001nm,，測(cè)量范圍0.1-0.3nm
2.配位鍵鍵角分析：角度分辨率0.1，測(cè)量范圍0-180
3.配位數(shù)確定：誤差≤0.5個(gè)配位點(diǎn)
4.結(jié)合常數(shù)測(cè)定：K值范圍10-10?L/mol
5.熱穩(wěn)定性測(cè)試：溫度范圍-196℃至1600℃,，升溫速率0.1-50℃/min

檢測(cè)范圍

1.金屬有機(jī)框架材料（MOFs）的配位網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)
2.過渡金屬配合物催化劑活性中心
3.稀土元素發(fā)光配合物的配位環(huán)境
4.生物大分子（血紅蛋白,、葉綠素）金屬輔基
5.納米材料表面配體修飾層

檢測(cè)方法

1.X射線單晶衍射：ISO19983:2017晶體結(jié)構(gòu)解析標(biāo)準(zhǔn)
2.擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜（EXAFS）：ASTME2806-11
3.紅外光譜分析：GB/T23413-2009配體振動(dòng)模式識(shí)別
4.核磁共振波譜法：GB/T27815-2011化學(xué)位移測(cè)定
5.熱重-差示掃描量熱聯(lián)用：ISO11358-1:2022熱穩(wěn)定性評(píng)價(jià)

檢測(cè)設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：配備HyPix-3000探測(cè)器，最小光斑尺寸50μm
2.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光譜儀：分辨率0.09cm?,，波長(zhǎng)范圍7800-350cm?
3.BrukerD8ADVANCEXRD系統(tǒng)：Cu靶Kα輻射（λ=1.5406）,，最大功率3kW
4.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀：溫度精度0.1℃，稱量精度0.1μg
5.AgilentCary630FTIR顯微鏡：空間分辨率3μm,，透射/反射雙模式
6.JEOLJEM-ARM300F球差校正電鏡：點(diǎn)分辨率0.08nm,，STEM-HAADF成像
7.MalvernZetasizerNanoZSP：動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量粒徑范圍0.3nm-10μm
8.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度計(jì)：帶寬0.1nm，波長(zhǎng)范圍185-3300nm
9.TAInstrumentsQ2000DSC：靈敏度0.2μW,，溫度重復(fù)性0.1℃
10.ThermoFisherESCALAB250XiXPS系統(tǒng)：能量分辨率<0.45eV

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)