參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑分布：測(cè)量0.1-500μm范圍內(nèi)針孔直徑統(tǒng)計(jì)分布（D10/D50/D90）
2.面密度：?jiǎn)挝幻娣e（cm）內(nèi)針孔數(shù)量統(tǒng)計(jì)（5%精度）
3.形狀系數(shù)：橢圓度/圓度參數(shù)（0.8-1.0量化范圍）
4.深度特征：Z軸方向穿透深度與基材厚度比值測(cè)量
5.連通性分析：三維空間內(nèi)針孔網(wǎng)絡(luò)滲透率測(cè)試（達(dá)西定律模型）

檢測(cè)范圍

1.金屬鍍層：汽車電泳漆層（15-30μm）、電子元器件鍍金層（0.5-5μm）
2.高分子薄膜：食品包裝阻隔膜（BOPP/PET）,、光伏背板封裝材料
3.陶瓷涂層：航空發(fā)動(dòng)機(jī)熱障涂層（YSZ體系）,、半導(dǎo)體ALD沉積層
4.復(fù)合材料：鋰電隔膜PE/PP多層結(jié)構(gòu)、碳纖維預(yù)浸料樹(shù)脂體系
5.光學(xué)鍍膜：AR減反射膜堆棧結(jié)構(gòu)（TiO?/SiO?交替層）

檢測(cè)方法

1.ASTME2867-19：采用金相顯微鏡法進(jìn)行二維形貌定量分析
2.ISO14993:2021：基于工業(yè)CT的三維缺陷重構(gòu)技術(shù)規(guī)范
3.GB/T6461-2022：金屬覆蓋層孔隙率電化學(xué)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
4.ASTMF316-03(2023)：泡點(diǎn)法測(cè)定濾膜最大孔徑標(biāo)準(zhǔn)流程
5.GB/T39289-2020：掃描電鏡結(jié)合能譜的微區(qū)成分分析方法

檢測(cè)設(shè)備

1.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡：配備20-7000倍電動(dòng)變倍系統(tǒng)與景深擴(kuò)展功能
2.ZeissSigma500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：1nm分辨率配合EDS/EBSD聯(lián)用模塊
3.BrukerContourGT-X3光學(xué)輪廓儀：0.1垂直分辨率三維形貌重建
4.ThermoFisherHeliScanmicroCT：亞微米級(jí)分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)
5.Elcometer456針孔檢測(cè)儀：DC67.5V電火花法專用測(cè)試裝置
6.KeyenceVHX-7000超景深顯微鏡：20mm20mm視場(chǎng)下自動(dòng)拼接功能
7.Agilent5500AFM原子力顯微鏡：接觸/輕敲模式納米級(jí)表面表征
8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：薄膜晶體結(jié)構(gòu)缺陷分析系統(tǒng)
9.AntonPaarSurPASS3電化學(xué)工作站：zeta電位與孔隙率聯(lián)合測(cè)試平臺(tái)
10.HitachiRegulus8230冷凍電鏡：生物樣品低溫固定觀測(cè)解決方案

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)