四氟化鐠檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.純度分析:主成分PrF?含量≥99.5%(質(zhì)量分?jǐn)?shù)),采用差減法計(jì)算非稀土雜質(zhì)總量2.氟含量測(cè)定:理論氟含量29.8%,,允許偏差0.3%3.雜質(zhì)元素分析:Fe≤50ppm,、Si≤30ppm、Ca≤20ppm(ICP-MS法)4.晶體結(jié)構(gòu)表征:XRD驗(yàn)證立方晶系(空間群Fm-3m),,晶格常數(shù)a=5.850.025.熱穩(wěn)定性測(cè)試:TG-DSC聯(lián)用分析分解溫度>800℃(N?氣氛)檢測(cè)范圍1.稀土功能材料:激光晶體基材,、磁致冷合金前驅(qū)體2.核工業(yè)涂層材料:中子吸收涂層原料3.光學(xué)鍍膜材料:紫外波段增
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.純度分析:主成分PrF?含量≥99.5%(質(zhì)量分?jǐn)?shù)),,采用差減法計(jì)算非稀土雜質(zhì)總量
2.氟含量測(cè)定:理論氟含量29.8%,,允許偏差0.3%
3.雜質(zhì)元素分析:Fe≤50ppm、Si≤30ppm,、Ca≤20ppm(ICP-MS法)
4.晶體結(jié)構(gòu)表征:XRD驗(yàn)證立方晶系(空間群Fm-3m),,晶格常數(shù)a=5.850.02
5.熱穩(wěn)定性測(cè)試:TG-DSC聯(lián)用分析分解溫度>800℃(N?氣氛)
1.稀土功能材料:激光晶體基材、磁致冷合金前驅(qū)體
2.核工業(yè)涂層材料:中子吸收涂層原料
3.光學(xué)鍍膜材料:紫外波段增透膜制備原料
4.催化劑前驅(qū)體:甲烷重整反應(yīng)催化劑載體
5.高溫陶瓷復(fù)合材料:耐腐蝕結(jié)構(gòu)件燒結(jié)添加劑
1.ASTMC1234-18《稀土化合物中非稀土雜質(zhì)測(cè)定規(guī)范》
2.ISO11876:2010《稀土金屬及其化合物—氟含量的測(cè)定》
3.GB/T12690.5-2021《稀土金屬及其氧化物化學(xué)分析方法第5部分:氟量的測(cè)定》
4.ISO14720-1:2013《陶瓷原料中硫的測(cè)定—第1部分:燃燒法》
5.GB/T20127.7-2021《金屬材料痕量元素含量的測(cè)定第7部分:ICP-MS法》
1.PANalyticalAxiosMax波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(元素定量分析)
2.Agilent7900電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(痕量雜質(zhì)測(cè)定)
3.RigakuSmartLabX射線衍射儀(晶體結(jié)構(gòu)解析)
4.NetzschSTA449F5同步熱分析儀(熱穩(wěn)定性測(cè)試)
5.Metrohm888Titrando自動(dòng)電位滴定儀(氟離子定量)
6.PerkinElmerOptima8300電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(主量元素分析)
7.MalvernMastersizer3000激光粒度分析儀(粉末粒度分布)
8.BrukerVertex80v傅里葉變換紅外光譜儀(官能團(tuán)鑒定)
9.JEOLJSM-7900F場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(微觀形貌觀測(cè))
10.MettlerToledoXPR6U超微量天平(稱量精度0.001mg)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
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