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一次激發(fā)能級檢測

2025-05-27 關鍵詞:一次激發(fā)能級測試周期,一次激發(fā)能級測試儀器,一次激發(fā)能級測試標準 相關:
一次激發(fā)能級檢測

一次激發(fā)能級檢測摘要:檢測項目1.激發(fā)態(tài)壽命測量:分辨率≤0.1ns,動態(tài)范圍10ps-10ms2.能級躍遷概率計算:誤差范圍3%,涵蓋S1→S0/T1→S0等通道3.量子產率測定:波長范圍200-1600nm,,精度0.5%4.斯托克斯位移分析:光譜分辨率0.05nm@532nm5.非輻射衰減系數(shù)測試:溫度控制0.5℃,壓力范圍10^-3-10^3Pa檢測范圍1.III-V族半導體量子點材料(InP/GaAs/CdSe)2.稀土摻雜發(fā)光晶體(YAG:Ce?/YVO4:Eu?)3.有機電致發(fā)光材料(Alq3/TPBi/CBP)4

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。

檢測項目

1.激發(fā)態(tài)壽命測量:分辨率≤0.1ns,動態(tài)范圍10ps-10ms
2.能級躍遷概率計算:誤差范圍3%,,涵蓋S1→S0/T1→S0等通道
3.量子產率測定:波長范圍200-1600nm,精度0.5%
4.斯托克斯位移分析:光譜分辨率0.05nm@532nm
5.非輻射衰減系數(shù)測試:溫度控制0.5℃,,壓力范圍10^-3-10^3Pa

檢測范圍

1.III-V族半導體量子點材料(InP/GaAs/CdSe)
2.稀土摻雜發(fā)光晶體(YAG:Ce?/YVO4:Eu?)
3.有機電致發(fā)光材料(Alq3/TPBi/CBP)
4.鈣鈦礦光伏薄膜(MAPbI3/CsPbBr3)
5.生物熒光標記物(FITC/羅丹明B/量子點探針)

檢測方法

1.ASTME2143-18時間分辨熒光光譜法
2.ISO20580-6:2021固態(tài)發(fā)光材料量子效率測定
3.GB/T26179-2010光致發(fā)光光譜測試通則
4.ASTME388-18光譜帶寬校準規(guī)程
5.GB/T40293-2021熒光壽命測試系統(tǒng)驗證規(guī)范

檢測設備

1.EdinburghInstrumentsFLS1000:穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜聯(lián)用系統(tǒng),,配備微秒閃光燈與納秒脈沖二極管
2.HoribaFluorolog-QM:全自動量子產率測試儀,積分球直徑150mm
3.PicoQuantFluoTime300:時間相關單光子計數(shù)系統(tǒng),,時間分辨率<25ps
4.AgilentCaryEclipse:三維熒光掃描分光光度計,,波長精度0.2nm
5.OceanInsightQEPro:高靈敏度光纖光譜儀,量子效率>90%@400nm
6.Becker&HicklDCS-120:共聚焦熒光壽命成像系統(tǒng),,空間分辨率200nm
7.LabsphereLMS-7600:反射式積分球附件組,,直徑75mm/150mm可選
8.AndoriStarsCMOS:快速門控ICCD相機,最小門寬2ns
9.ThorlabsPM100D:光功率計探頭響應范圍200-1100nm
10.LakeShore336:低溫恒溫器系統(tǒng),,溫控范圍4K-475K

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版),。

檢測周期:7~15工作日,可加急,。

資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告,。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案,。

售后:報告終身可查,,工程師1v1服務。

中析儀器 資質

中析一次激發(fā)能級檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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