非涅耳帶片檢測摘要:檢測項目1.衍射效率:測量波長范圍400-1600nm,,公差2%2.表面粗糙度:Ra值≤0.1μm(1mm1mm區(qū)域)3.環(huán)帶定位精度:徑向偏差≤1μm(50倍物鏡)4.基底厚度均勻性:厚度公差0.02mm(Φ200mm樣品)5.抗反射膜層附著力:劃格法測試符合ISO24090級標(biāo)準(zhǔn)6.環(huán)境穩(wěn)定性:溫度循環(huán)(-40℃~+85℃)后形變≤λ/[email protected]檢測范圍1.聚合物基非涅耳帶片(PMMA/PC材料)2.玻璃基底鍍膜帶片(K9/BK7光學(xué)玻璃)3.金屬鍍膜衍射帶片(鋁/金鍍層厚度50-200nm
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1.衍射效率:測量波長范圍400-1600nm,,公差2%
2.表面粗糙度:Ra值≤0.1μm(1mm1mm區(qū)域)
3.環(huán)帶定位精度:徑向偏差≤1μm(50倍物鏡)
4.基底厚度均勻性:厚度公差0.02mm(Φ200mm樣品)
5.抗反射膜層附著力:劃格法測試符合ISO24090級標(biāo)準(zhǔn)
6.環(huán)境穩(wěn)定性:溫度循環(huán)(-40℃~+85℃)后形變≤λ/[email protected]
1.聚合物基非涅耳帶片(PMMA/PC材料)
2.玻璃基底鍍膜帶片(K9/BK7光學(xué)玻璃)
3.金屬鍍膜衍射帶片(鋁/金鍍層厚度50-200nm)
4.紅外波段硫系玻璃帶片(8-12μm工作波長)
5.微結(jié)構(gòu)復(fù)合帶片(特征尺寸10-500μm)
6.UV固化樹脂成型帶片(硬度≥4H鉛筆硬度)
1.ISO9334:2012光學(xué)系統(tǒng)衍射效率測試規(guī)程
2.ASTMD7127-17非接觸式表面輪廓測量標(biāo)準(zhǔn)
3.GB/T13323-2009光學(xué)零件面形偏差檢驗方法
4.ISO10110-5:2015光學(xué)元件表面缺陷評估
5.GB/T26331-2010光學(xué)薄膜激光損傷閾值測量
6.ISO9022-2:2015環(huán)境試驗方法第2部分:冷熱沖擊
1.ZYGOVerifire?XP/D激光干涉儀(波長632.8nm,PV精度λ/100)
2.BrukerContourGT-X3白光干涉輪廓儀(垂直分辨率0.1nm)
3.ShimadzuAIM-9000紅外顯微鏡(15~1500連續(xù)變倍)
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡(120nm橫向分辨率)
5.AgilentCary7000全能型分光光度計(175-3300nm光譜范圍)
6.MitutoyoCMM-CrystaPlusM574三坐標(biāo)測量機(MPEE=1.8+L/300μm)
7.ThermoScientificARLEQUINOX3000X射線衍射儀(角度重復(fù)性0.0001)
8.ESILaserSTAR激光損傷閾值測試系統(tǒng)(1064nm/10ns脈沖寬度)
9.Instron5944萬能材料試驗機(載荷分辨率0.001N)
10.VotschVT7002恒溫恒濕箱(溫度波動度0.3℃)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析非涅耳帶片檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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