參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.厚度均勻性：測(cè)量范圍0.05-2.00mm,，精度0.005mm
2.鉬純度分析：Mo≥99.95%,，雜質(zhì)元素總量≤500ppm
3.晶粒度評(píng)級(jí)：ASTME112標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定1-8級(jí)
4.表面粗糙度：Ra≤0.8μm（激光共聚焦顯微鏡測(cè)量）
5.拉伸強(qiáng)度測(cè)試：室溫條件下≥550MPa
6.熱膨脹系數(shù)：20-1000℃范圍內(nèi)（5.80.3）10??/℃
7.電子逸出功：4.2-4.4eV（開(kāi)爾文探針?lè)ǎ?/p>

檢測(cè)范圍

1.核反應(yīng)堆中子吸收組件
2.醫(yī)用直線加速器靶材
3.高溫爐熱場(chǎng)屏蔽系統(tǒng)
4.半導(dǎo)體濺射鍍膜基材
5.航天器熱防護(hù)層襯底
6.X射線管旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極組件
7.真空電子束焊接隔離屏

檢測(cè)方法

1.ASTME2371-13：X射線熒光光譜法測(cè)定鉬及鉬合金化學(xué)成分
2.ISO6892-1:2019：金屬材料室溫拉伸試驗(yàn)方法
3.GB/T4334-2020：金屬和合金的腐蝕試驗(yàn)方法
4.ASTME384-22：材料顯微硬度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
5.GB/T13298-2015：金屬顯微組織檢驗(yàn)方法
6.ISO12107:2012：金屬材料疲勞試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)方案
7.ASTMF76-08(2020)：半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.BrukerS8TIGERXRF光譜儀（波長(zhǎng)色散型）
2.ZEISSGeminiSEM500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
3.MTSCriterion萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)（100kN量程）
4.NetzschDIL402C熱膨脹儀（最高1600℃）
5.KeyenceVK-X3000激光共聚焦顯微鏡
6.OxfordInstrumentsAZtecEnergyEDS能譜系統(tǒng)
7.Agilent7900ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀
8.MitutoyoSJ-410表面粗糙度測(cè)量?jī)x
9.Instron8862動(dòng)態(tài)疲勞試驗(yàn)機(jī)
10.ThermoScientificARLEQUINOX1000XRD衍射儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)