參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.平面坐標(biāo)偏差：X/Y/Z三軸定位精度0.002mm
2.旋轉(zhuǎn)角度偏差：軸向偏轉(zhuǎn)≤0.05
3.同心度誤差：徑向跳動(dòng)量≤0.01mm
4.平行度公差：基準(zhǔn)面偏移量≤0.005mm/m
5.垂直度偏差：正交角度誤差≤0.03
6.對(duì)稱度誤差：鏡像特征位置差≤0.015mm
7.同軸度公差：軸線偏移量≤φ0.02mm
8.位置度偏差：特征點(diǎn)坐標(biāo)誤差0.008mm
9.輪廓匹配度：三維曲面偏差≤0.05mm
10.裝配間隙測(cè)量：配合面間距精度0.003mm

檢測(cè)范圍

1.精密機(jī)械傳動(dòng)部件
2.半導(dǎo)體封裝基板
3.光學(xué)鏡頭模組
4.PCB電路板焊盤陣列
5.汽車發(fā)動(dòng)機(jī)缸體
6.航空航天結(jié)構(gòu)件
7.醫(yī)療器械植入體
8.模具成型鑲件
9.連接器端子陣列
10.3D打印金屬構(gòu)件

檢測(cè)方法

ASTME2919-19光學(xué)坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
ISO10360-7:2018坐標(biāo)測(cè)量機(jī)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
GB/T1958-2017產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）
GB/T16857.6-2016坐標(biāo)測(cè)量機(jī)探測(cè)系統(tǒng)測(cè)試方法
ISO230-1:2012機(jī)床檢驗(yàn)通則第1部分

檢測(cè)設(shè)備

1.UltraScanC12三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：配備0.6μm測(cè)頭系統(tǒng)
2.OptiTrackM400激光跟蹤儀：空間定位精度15μm+6μm/m
3.NanoFocusμsurf三維輪廓儀：Z軸分辨率1nm
4.KeyenceLM-9000影像測(cè)量系統(tǒng)：雙遠(yuǎn)心鏡頭1μm重復(fù)精度
5.HexagonAbsoluteARM七軸測(cè)量臂：動(dòng)態(tài)精度0.025mm
6.MitutoyoCRYSTA-ApexS坐標(biāo)機(jī)：溫度補(bǔ)償系統(tǒng)0.5℃
7.ZeissO-INSPJianCe復(fù)合式測(cè)量機(jī)：CT+光學(xué)融合技術(shù)
8.OGPSmartScopeFlash3020多傳感器系統(tǒng)：20倍變焦鏡頭組

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)