電光分析天平檢測(cè)摘要:電光分析天平作為高精度稱量?jī)x器,,其性能檢測(cè)需遵循嚴(yán)格的計(jì)量規(guī)范,。本文系統(tǒng)闡述核心檢測(cè)項(xiàng)目,、適用材料范圍及標(biāo)準(zhǔn)化操作方法,重點(diǎn)涵蓋靈敏度驗(yàn)證,、重復(fù)性測(cè)試等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo),,為實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制提供標(biāo)準(zhǔn)化參考依據(jù)。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
1.稱量精度驗(yàn)證:分辨率0.01mg~0.1mg
2.重復(fù)性誤差測(cè)試:≤0.02mg
3.線性度校準(zhǔn):滿量程0.05%
4.偏載誤差檢測(cè):四角偏差≤0.1mg
5.靈敏度驗(yàn)證:最小可讀值穩(wěn)定性測(cè)試
6.溫度漂移測(cè)試:0.5℃環(huán)境波動(dòng)影響
7.電磁兼容性測(cè)試:30V/m場(chǎng)強(qiáng)干擾下穩(wěn)定性
8.防風(fēng)罩效能驗(yàn)證:氣流擾動(dòng)≤0.02mg
9.開機(jī)預(yù)熱時(shí)間測(cè)定:30min溫漂曲線記錄
10.過載保護(hù)測(cè)試:120%量程機(jī)械結(jié)構(gòu)完整性
1.貴金屬粉末(金/銀/鉑)
2.藥品原料(API活性成分)
3.微電子焊料(錫膏/銀漿)
4.催化劑載體(鈀碳/分子篩)
5.納米材料(碳納米管/石墨烯)
6.標(biāo)準(zhǔn)砝碼(E1/E2等級(jí))
7.生物樣本(細(xì)胞培養(yǎng)物/酶制劑)
8.高分子單體(丙烯酸酯/環(huán)氧樹脂)
9.環(huán)境顆粒物(PM2.5濾膜樣本)
10.核工業(yè)材料(鈾氧化物粉末)
ASTME898-20《實(shí)驗(yàn)室天平標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法》
ISO9001:2015質(zhì)量管理體系要求
GB/T4167-2011《實(shí)驗(yàn)室分析天平》
JJG1036-2008《電子天平檢定規(guī)程》
ISO/IEC17025:2017實(shí)驗(yàn)室能力通用要求
GB/T26797-2011《微量天平校準(zhǔn)規(guī)范》
ASTME319-17《砝碼校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范》
GB/T30435-2013《電子稱重儀表》
1.MettlerToledoXP6U超微量天平:0.1μg分辨率
2.SartoriusCubisIIMCA525S:五位數(shù)顯防震臺(tái)集成系統(tǒng)
3.ShimadzuAUW220D:220g/0.01mg雙量程模式
4.A&DHR-250AZ:全自動(dòng)內(nèi)部校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)
5.RadwagAS220.R2:雙量程快速穩(wěn)定技術(shù)
6.OhausExplorerEX425D:四級(jí)防震電磁補(bǔ)償系統(tǒng)
7.PrecisaXT220A:溫濕度實(shí)時(shí)補(bǔ)償模塊
8.KernABT220-5DM:動(dòng)態(tài)稱量模式誤差修正
9.ScientechSA210:靜電消除防風(fēng)罩集成設(shè)計(jì)
10.DenverInstrumentSI-234:RS232數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集接口
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析電光分析天平檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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