參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

電學(xué)性能檢測(cè)：

• 電導(dǎo)率測(cè)量：σ（范圍103–10? S/m,，參照ISO 1853）
• 電阻率測(cè)試：ρ（單位Ω·m，精確度±0.05%）
• 載流子遷移率：μ（測(cè)量范圍100–10000 cm2/V·s）

• 拉伸強(qiáng)度：極限值≥100 MPa
• 彈性模量：E（范圍0.5–1.0 TPa）
• 彎曲疲勞壽命：循環(huán)次數(shù)≥10000次

• 熱導(dǎo)率：κ（測(cè)量值300–5000 W/mK,，參照ISO 22007）
• 熱穩(wěn)定性：分解溫度≥400℃
• 熱膨脹系數(shù)：CTE（范圍-1×10?? K?1）

• 抗氧化性：重量損失≤0.5%（GB/T 1732）
• 耐腐蝕性：酸/堿浸泡后電阻變化≤5%
• 濕度耐受：相對(duì)濕度95%下性能衰減≤3%

• 平均厚度：d（范圍0.3–10 nm）
• 厚度偏差：標(biāo)準(zhǔn)差≤0.1 nm（參照ASTM F1529）

• 碳純度：含量≥99.9 wt%
• 金屬殘留：Fe/Cu/Ni≤10 ppb
• 氧含量：O≤0.5 at%

• 表面粗糙度：Ra（范圍0.1–5 nm）
• 缺陷密度：裂紋/孔洞≤10個(gè)/cm2

• 透光率：T（550nm波長(zhǎng)≥97%）
• 反射率：R（可見(jiàn)光范圍≤3%）

• 層數(shù)確認(rèn)：?jiǎn)螌?多層識(shí)別
• 晶格缺陷：拉曼D/G峰比≤0.1

• 溫度循環(huán)：-40℃至85℃電阻穩(wěn)定性≤2%
• 振動(dòng)測(cè)試：加速度10g下導(dǎo)電性不變

檢測(cè)范圍

1. 單層石墨烯薄膜：化學(xué)氣相沉積法制備,，重點(diǎn)檢測(cè)電導(dǎo)率峰值和缺陷密度，確保最小晶格畸變,。

2. 多層石墨烯薄膜：疊層結(jié)構(gòu),，側(cè)重厚度均勻性和層間電阻變化，評(píng)估界面耦合效應(yīng),。

3. 化學(xué)摻雜石墨烯薄膜：硼或氮摻雜樣品,，檢測(cè)摻雜濃度對(duì)遷移率的影響及穩(wěn)定性。

4. 機(jī)械剝離石墨烯薄膜：高純度樣品，關(guān)注表面平整度和雜質(zhì)殘留,，驗(yàn)證力學(xué)強(qiáng)度,。

5. 柔性基底石墨烯薄膜：PET或PI基底，測(cè)試彎曲循環(huán)后的導(dǎo)電衰減和粘附力,。

6. 透明導(dǎo)電石墨烯薄膜：用于顯示器件,，重點(diǎn)測(cè)量550nm透光率和面電阻均勻性。

7. 石墨烯復(fù)合薄膜：金屬氧化物混合樣品,，檢測(cè)界面結(jié)合力和綜合熱導(dǎo)性能,。

8. 高溫處理石墨烯薄膜：退火后樣品，評(píng)估熱穩(wěn)定性及高溫下電阻漂移,。

9. 生物相容性石墨烯薄膜：醫(yī)療應(yīng)用材料,，側(cè)重體液腐蝕測(cè)試和電導(dǎo)率維持。

10. 大尺寸石墨烯薄膜：面積>10cm2樣品,，檢測(cè)整體均勻性和邊緣效應(yīng)導(dǎo)電損失,。

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISO 1853:2018 導(dǎo)電材料體積電阻率測(cè)量
• ISO 22007-2:2022 熱導(dǎo)率瞬態(tài)平面熱源法
• ISO 4287:1997 表面粗糙度輪廓法

• GB/T 351-1995 半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試
• GB/T 3859-2021 固體材料熱性能測(cè)定
• GB/T 16588-2022 薄膜厚度測(cè)量方法

檢測(cè)設(shè)備

1. 四探針電阻測(cè)試儀：Keithley 2450（測(cè)量范圍0.1Ω–100MΩ，分辨率0.01%）

2. 掃描電子顯微鏡：ZEISS GeminiSEM 450（分辨率0.8nm,，加速電壓0.1–30kV）

3. 原子力顯微鏡：Bruker Dimension Icon（掃描范圍100μm,，Z軸精度0.1nm）

4. 拉曼光譜儀：Renishaw inVia（波長(zhǎng)532nm，光譜帶寬<1cm?1）

5. 熱導(dǎo)率分析儀：Hot Disk TPS 2500S（溫度范圍-150–1000℃,，精度±3%）

6. 萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：Instron 5969（載荷0.5N–50kN,，應(yīng)變速率0.001–1000mm/min）

7. 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)：Shimadzu UV-1900（波長(zhǎng)190–900nm，光度精度±0.3%）

8. 霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)：Lake Shore 8400（磁場(chǎng)0–2T,，溫度77–800K）

9. X射線衍射儀：Rigaku SmartLab（角度范圍0–160°,，分辨率0.0001°）

10. 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀：Agilent 8890/5977B（檢測(cè)限0.1ppb，載氣流速1mL/min）

11. 環(huán)境測(cè)試箱：ESPEC SU-262（溫度范圍-70–150℃,，濕度10–98%）

12. 表面輪廓儀：KLA-Tencor P-17（掃描速度1mm/s,，垂直分辨率0.1nm）

13. 光學(xué)顯微鏡：Olympus BX53（放大倍數(shù)50–1000×，數(shù)字成像）

14. 電化學(xué)工作站：BioLogic VSP-300（電流范圍±1A,，電壓±10V）

15. 薄膜厚度測(cè)量?jī)x：Filmetrics F20（波長(zhǎng)范圍190–1700nm,，精度±0.1nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)