參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

　　X射線光電子能譜分析檢測，找哪個檢測機(jī)構(gòu)辦理比較好?中析檢測機(jī)構(gòu),，可為您提供各種X射線光電子能譜分析檢測服務(wù),。中析研究所貫徹堅(jiān)持做一個管理、技術(shù),、效率,、服務(wù)周全，社會尊重,、客戶信賴的研究型檢測分析機(jī)構(gòu),，長期致力于推動分析檢測產(chǎn)業(yè)的長足發(fā)展，竭誠歡迎各界同仁前來洽談,、合作!

　　檢測周期：7-15個工作日出具X射線光電子能譜分析檢測報告,。

　　檢測費(fèi)用：初檢，根據(jù)客戶檢測需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報價,。

X射線光電子能譜分析檢測項(xiàng)目

　　樣品成分表面分析,，價態(tài)分析，多層膜深度剖析等等;

X射線光電子能譜分析檢測標(biāo)準(zhǔn)(部分)

　　GB/T 21006-2007    表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

　　GB/T 22571-2017    表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

　　GB/T 25184-2010    X射線光電子能譜儀檢定方法

　　GB/T 25185-2010    表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告

　　GB/T 25188-2010    硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測量 X射線光電子能譜法

　　GB/T 28632-2012    表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測定

　　GB/T 28633-2012    表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

X射線光電子能譜分析檢測流程

　　1,、寄樣：和工程師聯(lián)系咨詢 并郵寄樣品(支持上門取樣)

　　2,、初檢：對樣品進(jìn)行初檢，結(jié)合客戶需求確定具體檢測項(xiàng)目

　　3,、報價：根據(jù)檢測的復(fù)雜程度進(jìn)行報價

　　4,、雙方確定--簽訂保密協(xié)議，開始實(shí)驗(yàn)

　　5,、完成實(shí)驗(yàn)

　　6,、寄送報告：有完善的售后服務(wù)，可隨時咨詢

　　以上是關(guān)于X射線光電子能譜分析檢測的相關(guān)介紹,，如有其他檢測需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師幫您解答(試驗(yàn)/檢測周期以工程師為準(zhǔn)),。

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