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電子背散射衍射測(cè)試(EBSD測(cè)試)

2021-05-10 關(guān)鍵詞：電子背散射衍射測(cè)試(EBSD測(cè)試) 相關(guān)：

電子背散射衍射測(cè)試(EBSD測(cè)試)摘要：電子背散射衍射測(cè)試(EBSD測(cè)試)

項(xiàng)目咨詢獲取報(bào)價(jià)

參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

儀器名稱：	電子背散射衍射探測(cè)器	型號(hào)：	nord l ysnano
檢測(cè)項(xiàng)目：	樣品的相、晶粒,、極圖,、取向分布、織構(gòu)
應(yīng)用范圍：	應(yīng)用于各種極具挑戰(zhàn)性的材料的形貌觀察,、元素組成和分布測(cè)試,、結(jié)構(gòu)和取向分析。如金屬,、納米顆粒和粉體,、納米管和納米線等各種納米材料、多孔物質(zhì)（如硅,、羥基磷灰石）,、塑料電子器件、玻璃基體材料,、有機(jī)材料,、高分子物質(zhì),、金剛石薄膜、半導(dǎo)體截面,、晶體材料,、生物樣品、各類薄膜材料和截面等,。
制樣要求：	樣品高度小于15mm，直徑小于30mm,。固體干燥樣品,，樣品上下表面整潔及其平整，打磨之后并拋光,。