場發(fā)射掃描電子顯微鏡
2015-11-28 16:49:17
關(guān)鍵詞:場發(fā)射掃描電子顯微鏡
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摘要:該儀器具有超高分辨率,,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子象,、反射電子象觀察及圖像處理。 具有高性能x射線能譜儀,,能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性,、半定量及定
該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理,。 具有高性能x射線能譜儀,,能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性、半定量及定量分析,,具有形貌,、化學(xué)組分綜合分析能力。
場發(fā)射掃描電子顯微鏡,,廣泛用于生物學(xué),、醫(yī)學(xué)、金屬材料,、高分子材料,、化工原料,、地質(zhì)礦物,、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制,、寶石鑒定,、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析??梢杂^察和檢測非均相有機材料,、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征,。該儀器的較大特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力,,尤其是采用較新數(shù)字化圖像處理技術(shù),提供高倍數(shù),、高分辨掃描圖像,,并能即時打印或存盤輸出,是納米材料粒徑測試和形貌觀察較有效儀器,。也是研究材料結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系所不可缺少的重要工具,。
中析儀器 資質(zhì)
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