掃描電子顯微鏡（FESEM-EDS測(cè)試）

2021-05-08 17:01:11 關(guān)鍵詞：FESEM-EDS測(cè)試相關(guān)：

摘要：掃描電子顯微鏡（FESEM-EDS測(cè)試）固體樣品的微觀形貌,、結(jié)構(gòu),，樣品的微區(qū)元素成分、線分布,、面分布,，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料,、物理,、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域,。塊體、粉末,、磁性,、生物樣品都適用；適合導(dǎo)電性不佳的樣品形貌觀察,。

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儀器名稱	場(chǎng)發(fā)射超高分辨率掃描電鏡（FESEM）	型號(hào)	SEM (Tescan mira3 Zeiss sigma500) EDS (OxfordX-MAX)
檢測(cè)項(xiàng)目：	表面形貌觀察（磁性,、非磁樣品、生物樣均可）,，EDS能譜（點(diǎn)掃,、線掃、面掃）,，elements Mapp ing,，EBSD
應(yīng)用范圍：	固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu),，樣品的微區(qū)元素成分,、線分布、面分布,，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù),、材料、物理,、化學(xué),、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。塊體,、粉末,、磁性、生物樣品都適用,。適合導(dǎo)電性不佳的樣品形貌觀察,。
制樣要求：	樣品尺寸要求：塊狀樣和生物樣，直徑小于26mm,，高度小于15mm（樣品中不得含有水分）粉末樣>0.028 生物樣品需要提前制好樣,，否則不予測(cè)試,。