LP測試摘要:LP測試(Low Power Testing)是一種針對低功率電子設(shè)備的測試方法。北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所可依據(jù)相應(yīng)LP測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行智能手表,、可穿戴設(shè)備,、傳感器節(jié)點(diǎn)、微控制器等各種樣品---的分析測試服務(wù),。檢測周期:常規(guī)到樣后7-15個(gè)工作日出具試驗(yàn)報(bào)告,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
評估低功率電子設(shè)備的功耗:通過測試和測量,,獲取設(shè)備在不同工作模式下的功耗數(shù)據(jù),,以評估其能效和電池壽命。
驗(yàn)證低功率電子設(shè)備的功能:確認(rèn)設(shè)備在低功率狀態(tài)下的各項(xiàng)功能是否正常工作,。
性能測試:安全性,、可用性、兼容性,、壓力測試等,。
中析研究所可依據(jù)相應(yīng)LP測試標(biāo)準(zhǔn)通過負(fù)載測試、漏洞掃描,、滲透測試等各種方法進(jìn)行分析測試服務(wù),,亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案,為客戶提供非標(biāo)檢測服務(wù),。LP測試費(fèi)用:樣品初檢后結(jié)合客戶檢測需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià),,樣品量大小:具體樣品量需要根據(jù)客戶的檢測項(xiàng)目來決定,,詳情您可以咨詢工程師,。
LP測試樣品一般包括:
車輛和交通系統(tǒng):汽車,、公交車、火車,、飛機(jī),、智能交通燈等。
電子設(shè)備:智能手機(jī),、平板電腦,、電視機(jī)、計(jì)算機(jī),、無線耳機(jī),、音箱、攝像頭等,。
通信設(shè)備:路由器,、調(diào)制解調(diào)器、交換機(jī),、網(wǎng)絡(luò)攝像頭等,。
傳感器和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備:溫度傳感器、濕度傳感器,、運(yùn)動傳感器,、智能家居設(shè)備、智能手表等,。
功耗測量:使用專用的功率分析儀器或電流測量設(shè)備,,對設(shè)備進(jìn)行功耗測量??梢詼y量設(shè)備在待機(jī)模式,、活躍模式和休眠模式下的功耗。
時(shí)序分析:通過觀察設(shè)備的時(shí)鐘信號和數(shù)據(jù)傳輸信號,,分析設(shè)備在不同狀態(tài)下的時(shí)序行為,,檢查電源管理和喚醒邏輯的正確性。
功能驗(yàn)證:運(yùn)行特定的測試用例或場景,,確認(rèn)設(shè)備在低功率狀態(tài)下的各項(xiàng)功能是否正常工作,。
功率分析儀:用于測量設(shè)備在不同工作模式下的功耗,包括待機(jī)狀態(tài),、活躍狀態(tài)和休眠狀態(tài),。
邏輯分析儀:用于捕獲和分析設(shè)備的時(shí)序行為,,幫助排查電源管理和喚醒邏輯的問題,。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng):用于記錄和分析設(shè)備在低功率狀態(tài)下的各項(xiàng)功能是否正常工作。
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中析LP測試 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
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