參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

　　中析研究所可依據(jù)相應(yīng)AG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析測(cè)試服務(wù)，亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案,，為客戶提供非標(biāo)檢測(cè)服務(wù),。AG測(cè)試費(fèi)用：樣品初檢后結(jié)合客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)，樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測(cè)項(xiàng)目來(lái)決定,，詳情您可以咨詢工程師。

試驗(yàn)范圍

　　AG測(cè)試樣品一般包括：

　　顯示器類(lèi)：液晶顯示器(LCD),、有機(jī)發(fā)光二極管顯示器(OLED),、電子墨水屏、觸摸屏,、投影儀,、顯示模組等。

　　光學(xué)器件類(lèi)：透鏡,、棱鏡,、濾光片、光纖,、激光器,、光學(xué)涂層、光學(xué)薄膜等,。

　　光學(xué)材料類(lèi)：玻璃,、聚合物、晶體,、光學(xué)薄膜材料,、光學(xué)纖維等。

相關(guān)儀器

　　AG測(cè)試涉及的儀器設(shè)備包括：

　　反射率測(cè)試方法：使用反射光度計(jì)或光譜儀,，測(cè)量樣品表面的反射率,。

　　光學(xué)均勻性測(cè)試方法：使用光學(xué)顯微鏡或成像系統(tǒng)，檢測(cè)樣品表面的光學(xué)均勻性,。

　　表面粗糙度測(cè)試方法：使用表面粗糙度儀,、原子力顯微鏡或光學(xué)顯微鏡，測(cè)量樣品表面的粗糙度,。

　　抗指紋性能測(cè)試方法：使用指紋模擬器或人工指紋,，評(píng)估樣品表面的抗指紋性能。

　　耐磨性測(cè)試方法：使用磨損測(cè)試機(jī)或磨損測(cè)試儀,，模擬樣品表面的磨損情況,。

中析報(bào)告注意事項(xiàng)

　　· 報(bào)告無(wú)服務(wù)方簽字人簽名無(wú)效(簽名應(yīng)均為同一人);

　　· 未加蓋“北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所”科研測(cè)試專(zhuān)用章無(wú)效;

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