片狀鐵素體測試摘要:片狀鐵素體測試是評估金屬材料顯微組織性能的核心檢測項目,重點關(guān)注鐵素體形態(tài),、分布及含量對機械性能的影響,。檢測涵蓋低合金鋼,、不銹鋼等材料,,采用金相顯微分析,、電子探針等技術(shù),,嚴格依據(jù)ASTME112,、ISO643等標準執(zhí)行,確保數(shù)據(jù)精確性和工藝優(yōu)化指導價值,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
鐵素體形態(tài)分析:長寬比≥5:1,,平均長度10-200μm
鐵素體含量測定:體積分數(shù)誤差≤0.5%,,面積百分比測量精度±2%
分布均勻性評價:采用ASTM E1245網(wǎng)格法,統(tǒng)計變異系數(shù)CV值≤15%
晶粒度評級:依據(jù)ASTM E112進行G=5-8級判定
界面結(jié)合強度測試:納米壓痕法測量硬度梯度,,壓痕間距≤2μm
低合金高強度鋼:Q345B/Q460C等壓力容器用鋼
奧氏體不銹鋼:304/316L等牌號冷軋板材
雙相不銹鋼:2205/2507系列管材及焊件
焊接熱影響區(qū):包含MAG/TIG焊接接頭
特種合金材料:核電站用SA508 Gr.3鋼
金相顯微鏡分析:ASTM E3試樣制備,,ASTM E407腐蝕規(guī)范
掃描電鏡觀察:ISO 16700加速電壓15kV,WD=10mm
電子背散射衍射:ISO 21466標準,,步長0.1μm
X射線衍射定量:ASTM E975 Rietveld精修法
電子探針微區(qū)分析:JIS Z 3296點分析模式,,束斑直徑1μm
蔡司Axio Imager M2m金相顯微鏡:配備500萬像素CCD,最大放大倍數(shù)1000×
FEI Nova NanoSEM 450場發(fā)射電鏡:分辨率1nm@15kV,配備EDAX能譜儀
牛津Symmetry EBSD探測器:采集速度3000點/秒,,角分辨率≥0.5°
布魯克D8 ADVANCE X射線衍射儀:Cu靶Kα輻射,,2θ范圍5-160°
島津EPMA-8050G電子探針:波長分辨率5eV,元素檢測范圍B-U
持有CNAS L12345實驗室認可證書,,檢測數(shù)據(jù)國際互認
通過CMA 20230001資質(zhì)認定,,覆蓋GB/T 13298等16項檢測標準
配備ISO/IEC 17025:2017標準質(zhì)量體系,檢測不確定度評估符合GUM規(guī)范
技術(shù)團隊包含3名MT/PT III級人員,,年均完成2000+試樣檢測
參與制定NB/T 47014承壓設(shè)備焊接工藝評定標準
中析片狀鐵素體測試 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28