偏磷酸鑭測試摘要:偏磷酸鑭作為功能性稀土材料,其性能測試需通過嚴格的化學分析與物性表征。本文系統(tǒng)闡述該材料的核心檢測項目,,涵蓋化學成分、晶體結構,、熱穩(wěn)定性等關鍵指標,基于ISO/ASTM等國際標準方法,,結合高精度儀器設備實現數據溯源,。檢測范圍涉及光學玻璃、催化劑,、電子陶瓷等領域,,實驗室通過CNAS/CMA雙認證保障檢測結果權威性。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外),。
化學成分分析:La含量(25.8-26.5%),、P含量(17.2-18.1%)、雜質元素(Fe≤0.003%,、Si≤0.005%)
晶體結構表征:晶型純度(α相≥98%)、晶格參數(a=0.712nm±0.002),、結晶度(XRD半峰寬≤0.15°)
熱穩(wěn)定性測試:相變溫度(580-620℃),、熱失重(800℃下≤0.8%)、熱膨脹系數(4.2×10??/K)
光學性能檢測:折射率(1.62±[email protected]),、紫外截止波長(≤260nm),、透光率(≥92%@400-700nm)
粒度分布分析:D50(3.5-5.0μm)、Span值(≤1.2),、比表面積(1.8-2.3m2/g)
稀土功能材料
特種玻璃制品
電子陶瓷元件
催化劑載體
納米復合材料
項目 | 標準方法 | 技術要點 |
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元素分析 | ISO 11885:2007 ASTM E1479-16 | 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)定量檢測,,采用標準加入法消除基質效應 |
物相分析 | ISO 20203:2015 ASTM E975-13 | X射線衍射全譜擬合(Rietveld法),使用ICSD 01-076-1883標準卡片比對 |
熱分析 | ISO 11358:2022 ASTM E1131-20 | 同步熱分析(STA)聯用質譜,,升溫速率5℃/min,,氮氣保護氛圍 |
光學測試 | ISO 14782:2015 ASTM D1003-21 | 雙光束分光光度計配備積分球,校正標準器SRM 2034 |
Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES
軸向觀測系統(tǒng),,檢測限達ppb級,,配備自動稀釋系統(tǒng)
Rigaku SmartLab X射線衍射儀
9kW旋轉陽極,,HyPix-3000二維探測器,角度重復性±0.0001°
Netzsch STA 449 F5 Jupiter
TG-DSC同步分析,,最高溫度1550℃,,真空度5×10?? mbar
Malvern Mastersizer 3000
激光粒度分析儀,量程0.01-3500μm,,干濕法雙模式
資質體系
標準物質
質量管控
技術團隊
設備溯源:全部計量設備納入國家量值傳遞體系,,年校準率100%
中析偏磷酸鑭測試 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師