參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

電離度峰值檢測(cè)：測(cè)量范圍0.1-1000kGy，分辨率±0.05kGy

能量分布譜分析：涵蓋10keV-10MeV能段,，通道數(shù)2048

衰減時(shí)間常數(shù)測(cè)定：時(shí)間分辨率10ns,，動(dòng)態(tài)范圍60dB

缺陷密度檢測(cè)：最小檢測(cè)尺寸0.1μm，定位精度±2μm

殘留電荷量測(cè)試：靈敏度0.1pC,，溫控范圍-50℃~150℃

檢測(cè)范圍

半導(dǎo)體晶圓材料：包括硅基,、GaN、SiC等第三代半導(dǎo)體材料

高分子輻射改性材料：PTFE,、PEEK等工程塑料的耐輻照性能評(píng)估

金屬鍍層材料：鍍金層/銀層的電子遷移特性分析

生物醫(yī)學(xué)材料：植入器械的輻射殘留物檢測(cè)（符合ISO 10993-16）

航天復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹脂的空間輻射耐受性測(cè)試

檢測(cè)方法

ASTM F1801-20：半導(dǎo)體器件電離總劑量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO/ASTM 51707:2022：電離輻射劑量測(cè)量不確定度評(píng)估導(dǎo)則

IEC 60749-39:2021：半導(dǎo)體器件單粒子效應(yīng)加速測(cè)試方法

GB/T 26168.1-2018：電氣絕緣材料輻射老化試驗(yàn)規(guī)范

ASTM E2304-11(2022)：伽馬射線劑量場(chǎng)均勻性驗(yàn)證方法

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Scientific Model 7890B：高精度電離室陣列,，配備6軸自動(dòng)定位系統(tǒng)

Keysight N9030B PXA：信號(hào)分析儀，支持50GHz瞬時(shí)帶寬采集

Keithley 4200A-SCS：半導(dǎo)體參數(shù)分析系統(tǒng),，集成CV/IV/LIV測(cè)試模塊

Bruker Contour Elite：白光干涉三維形貌儀,，垂直分辨率0.1nm

Agilent 8900 ICP-MS/MS：三重四級(jí)桿質(zhì)譜儀，檢測(cè)限達(dá)ppt級(jí)

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)（CNAS）認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（編號(hào)L1234）

通過(guò)ISO/IEC 17025:2017體系認(rèn)證,，建立三級(jí)量值溯源體系

配置Class 1000潔凈檢測(cè)環(huán)境,，溫濕度控制精度±0.5℃/±2%RH

具備NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)庫(kù)，包含SRM 4234等23種標(biāo)準(zhǔn)樣品

自主研發(fā)的LIMS系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)數(shù)據(jù)區(qū)塊鏈存證,，符合FDA 21 CFR Part 11規(guī)范

中析儀器 資質(zhì)