參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

晶體結(jié)構(gòu)分析：XRD測(cè)定晶胞參數(shù)（a=5.68±0.02?,，c=3.98±0.01?）,，計(jì)算晶格畸變率（≤0.15%）

化學(xué)成分檢測(cè)：ICP-OES測(cè)定Sr/Ba摩爾比（1:1±0.03），Nb?O?含量（≥99.5wt%）

介電性能測(cè)試：LCR表測(cè)量介電常數(shù)（ε

r

熱膨脹系數(shù)測(cè)定：DIL-402C測(cè)試20-600℃范圍內(nèi)CTE（7.2±0.3×10

-6

擊穿場(chǎng)強(qiáng)評(píng)估：Hipot測(cè)試儀檢測(cè)擊穿電壓（≥25kV/mm@25℃）

檢測(cè)范圍

壓電陶瓷基材：用于超聲波換能器,、濾波器等器件制造

非線性光學(xué)晶體：激光頻率轉(zhuǎn)換器件的核心材料

微波介質(zhì)材料：5G通信基站諧振器專用陶瓷基板

高溫電容器介質(zhì)：新能源汽車逆變器用耐高溫元件

鐵電存儲(chǔ)材料：非揮發(fā)性存儲(chǔ)器件的極化層材料

檢測(cè)方法

X射線衍射法：ASTM E915-16標(biāo)準(zhǔn),，θ-2θ掃描模式（10°-80°）

掃描電鏡分析：ISO 16700:2016規(guī)范，工作電壓5-20kV可調(diào)

阻抗譜測(cè)試：IEC 61006:2004方法,，頻率范圍1Hz-10MHz

熱重-差示掃描量熱法：ASTM E1269-11程序,，升溫速率5℃/min

四探針電導(dǎo)率測(cè)試：ASTM F1529-20規(guī)程，電流范圍1nA-100mA

檢測(cè)設(shè)備

X射線衍射儀：Rigaku SmartLab 9kW,，配備HyPix-3000二維探測(cè)器

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：JEOL JSM-7800F Prime,，分辨率0.8nm@15kV

阻抗分析儀：Keysight E4990A，基本精度±0.08%

熱分析系統(tǒng)：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter?,，溫度范圍-150℃-2000℃

高壓擊穿測(cè)試儀：Hipotronics 8000系列,，輸出0-50kV AC/DC

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊(cè)號(hào)L1234）,，通過ISO/IEC 17025:2017認(rèn)證

配備10

-3

應(yīng)用Jade 9.0全譜擬合軟件，晶體結(jié)構(gòu)解析精度達(dá)0.001?

建立材料缺陷數(shù)據(jù)庫(kù),，可識(shí)別≥0.1μm的晶界異常

具備NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)溯源能力,，測(cè)量不確定度≤0.5%

中析儀器 資質(zhì)