參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

相位延遲量測(cè)試（0-300nm,，分辨率±0.1nm）

消光比測(cè)量（30-60dB，精度±0.2dB）

偏振態(tài)分析（斯托克斯參數(shù)S1-S3,，測(cè)量誤差＜2%）

偏振相關(guān)損耗測(cè)試（0.01-3dB,，重復(fù)性偏差±0.03dB）

偏振模色散檢測(cè)（0.1-50ps，波長(zhǎng)范圍1260-1650nm）

檢測(cè)范圍

光學(xué)薄膜：AR/IR鍍膜,、相位延遲膜,、偏振分光膜

液晶材料：TFT-LCD面板、PDLC智能調(diào)光膜

光纖器件：保偏光纖,、光纖環(huán)行器,、波分復(fù)用器

激光晶體：LN/LT電光晶體、YVO4雙折射晶體

偏振光學(xué)元件：沃拉斯頓棱鏡,、偏振片,、λ/4波片

檢測(cè)方法

穆勒矩陣分析法（ISO 24157:2023）：通過(guò)6組偏振態(tài)輸入輸出測(cè)量建立完整偏振特性矩陣

旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器法（ASTM D7245-18）：采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)波片，測(cè)量透射光強(qiáng)變化曲線

干涉條紋分析法（JIS K7142-2019）：利用馬赫-曾德干涉儀檢測(cè)材料雙折射引起的相位差

偏振敏感OCT技術(shù)（ISO 16976:2022）：實(shí)現(xiàn)微米級(jí)空間分辨的斷層掃描測(cè)量

斯托克斯橢偏法（ASTM E2729-19）：測(cè)量反射/透射光的偏振態(tài)變化反演材料光學(xué)常數(shù)

檢測(cè)設(shè)備

PAX1000偏振分析儀（Thorlabs）：支持1550nm波長(zhǎng),，動(dòng)態(tài)范圍60dB,，采樣率1MS/s

EXICOR 150AT自動(dòng)橢偏儀（Hinds）：光譜范圍245-1700nm,，入射角調(diào)節(jié)精度±0.01°

CRi Mueller矩陣成像系統(tǒng)：空間分辨率2μm，配備12位CCD相機(jī)

LUNA OVA 5000光纖測(cè)試儀：集成PMD分析模塊,，支持單模/多模光纖測(cè)試

JASCO V-770分光偏振計(jì)：雙光束設(shè)計(jì),，光譜帶寬0.1-20nm可調(diào)

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊(cè)號(hào)L1234），通過(guò)ISO/IEC 17025:2017認(rèn)證

配備N(xiāo)IST可溯源校準(zhǔn)系統(tǒng),，確保測(cè)量溯源性（證書(shū)號(hào)CT-2023-056）

10年以上從業(yè)經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),，累計(jì)完成2000+偏振相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目

支持IEC 61300-3-32、GB/T 18311.4-2018等20余項(xiàng)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)

擁有Class 1000潔凈實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,，溫控精度±0.5℃,，濕度波動(dòng)＜3%RH

中析儀器 資質(zhì)