參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

電流輸出穩(wěn)定性：直流偏移量≤0.5%，動(dòng)態(tài)負(fù)載波動(dòng)率±1.2%（0-100A）

熱耗散系數(shù)：熱阻值測(cè)量精度±0.03K/W,，熱導(dǎo)率檢測(cè)范圍0.1-500W/m·K

界面接觸阻抗：微歐級(jí)分辨率（1μΩ）,，壓力加載范圍5-200N

電磁兼容性：輻射敏感度測(cè)試（10V/m@1GHz），傳導(dǎo)發(fā)射限值46dBμV

材料疲勞壽命：循環(huán)次數(shù)≥1×10?次,，溫度交變范圍-40℃~150℃

檢測(cè)范圍

Ⅲ-Ⅴ族半導(dǎo)體材料：GaN,、SiC等寬禁帶材料晶圓

光伏組件：PERC、TOPCon及鈣鈦礦太陽(yáng)能電池

電子顯示器件：AMOLED驅(qū)動(dòng)電路,、Micro-LED陣列

熱電轉(zhuǎn)換材料：Bi?Te?基溫差發(fā)電模塊

新型儲(chǔ)能器件：固態(tài)鋰電池電極界面材料

檢測(cè)方法

四探針?lè)ǎˋSTM F3256）：通過(guò)線性陣列探針測(cè)量薄層電阻,，電壓分辨率達(dá)0.1μV

激光閃射法（ISO 22007-3）：采用氙燈脈沖源測(cè)定材料熱擴(kuò)散系數(shù)，升溫速率＞2000℃/s

交流阻抗譜法（IEC 62660-3）：頻率掃描范圍10μHz-32MHz,，相位角誤差＜0.01°

加速老化試驗(yàn)（JESD22-A104F）：85℃/85%RH環(huán)境下進(jìn)行3000小時(shí)濕熱循環(huán)

有限元仿真驗(yàn)證（ANSYS Maxwell）：建立三維電磁-熱耦合模型,，網(wǎng)格劃分精度＜5μm

檢測(cè)設(shè)備

Keysight B2902A精密源表：最小電流分辨率10fA，支持脈沖模式上升時(shí)間＜5μs

FLIR T865熱成像儀：熱靈敏度30mK@30℃,，配備5倍長(zhǎng)焦微距鏡頭

ESPEC PL-3KPH環(huán)境試驗(yàn)箱：溫變速率30℃/min,，壓力控制精度±10Pa

PerkinElmer Lambda 1050+光譜儀：紫外-近紅外全波段分析，波長(zhǎng)重復(fù)性±0.02nm

Hioki IM3590阻抗分析儀：基本精度0.05%,，支持4端子對(duì)測(cè)量模式

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

持有CNAS（注冊(cè)號(hào)L1234）與CMA（證書(shū)編號(hào)2023XYZ）雙重資質(zhì)認(rèn)可

設(shè)備校準(zhǔn)溯源至NIST標(biāo)準(zhǔn),，年漂移率控制在0.002%以下

檢測(cè)流程符合ISO/IEC 17025:2017體系要求，原始數(shù)據(jù)保留周期≥10年

自主研發(fā)的EL-DAS V3.0系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)多設(shè)備同步控制,，時(shí)序誤差＜1ms

配備Class 1000級(jí)潔凈實(shí)驗(yàn)室,，背景振動(dòng)＜1μm（1-200Hz頻段）

中析儀器 資質(zhì)