參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

反射率測(cè)定：波長(zhǎng)380-780nm范圍內(nèi)反射率≤1.5%，入射角5°-60°可調(diào)

涂層厚度檢測(cè)：納米級(jí)分辨率（±2nm）,，檢測(cè)范圍50nm-5μm

附著力測(cè)試：劃格法（ASTM D3359）0-5B等級(jí)判定,，載荷0.75-10N可調(diào)

耐磨性能評(píng)估：Taber磨損測(cè)試（ISO 9352），500-5000轉(zhuǎn)次質(zhì)量損失≤0.02g

環(huán)境耐受性檢測(cè)：濕熱循環(huán)（40℃/95%RH）,、鹽霧（ASTM B117）,、UV老化（ISO 4892-3）綜合評(píng)估

檢測(cè)范圍

光學(xué)器件：相機(jī)鏡頭、激光鏡片,、光纖端面等鍍膜產(chǎn)品

能源設(shè)備：太陽(yáng)能集熱板抗反射涂層,、光伏玻璃表面處理層

交通工具：航空器舷窗減反射膜、汽車HUD顯示面板涂層

建筑材料：Low-E玻璃功能膜層,、幕墻自清潔涂層

電子元件：半導(dǎo)體晶圓防眩光涂層,、OLED屏幕光學(xué)補(bǔ)償膜

檢測(cè)方法

反射光譜法：ASTM E903標(biāo)準(zhǔn)，采用積分球系統(tǒng)測(cè)量全波段反射特性

橢偏儀檢測(cè)：ISO 14782規(guī)定,，通過(guò)偏振光相位差解析膜層厚度與折射率

納米壓痕測(cè)試：ISO 14577-1標(biāo)準(zhǔn),，測(cè)定涂層彈性模量（范圍0.1-500GPa）

掃描電鏡分析：ASTM E1508規(guī)范，配合能譜儀（EDS）進(jìn)行微觀形貌與成分分析

接觸角測(cè)量：ISO 27448標(biāo)準(zhǔn),，評(píng)估表面能變化（精度±0.1°）

檢測(cè)設(shè)備

分光光度計(jì)：PerkinElmer Lambda 1050+,，波長(zhǎng)范圍175-3300nm，分辨率0.05nm

膜厚測(cè)量系統(tǒng)：Filmetrics F20-UV,，支持5nm-1mm厚度測(cè)量,，重復(fù)精度±0.2%

多功能摩擦試驗(yàn)機(jī)：TRB3 Anton Paar，最大載荷50N,，線性速度0.1-100mm/s可調(diào)

環(huán)境模擬箱：Weiss WK11-600,，溫控范圍-70℃~+180℃，濕度控制10-98%RH

原子力顯微鏡：Bruker Dimension Icon,，掃描范圍90μm×90μm,，Z軸分辨率0.1nm

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室：證書編號(hào)L1234，檢測(cè)報(bào)告國(guó)際互認(rèn)

CMA認(rèn)證資質(zhì)：覆蓋GB/T 23989-2009等18項(xiàng)涂層檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證能力：通過(guò)ILAC國(guó)際比對(duì)試驗(yàn),，數(shù)據(jù)偏差率＜1.5%

專家團(tuán)隊(duì)支撐：5名高級(jí)工程師領(lǐng)銜，累計(jì)完成3000+涂層失效分析案例

設(shè)備溯源體系：所有計(jì)量?jī)x器均通過(guò)NIM溯源，確保量值傳遞準(zhǔn)確性

中析儀器 資質(zhì)