參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1. 主成分分析

鎳（Ni）含量≥99.98%（質(zhì)量分數(shù)）,，檢測精度±0.005%

2. 雜質(zhì)元素檢測

鐵（Fe）≤0.003%、鈷（Co）≤0.002%,、銅（Cu）≤0.001%,、硫（S）≤0.0005%、碳（C）≤0.001%

3. 物理性能測試

密度8.90-8.92 g/cm3,，維氏硬度HV 80-120,，電導(dǎo)率≥14.9 MS/m

4. 微觀結(jié)構(gòu)分析

晶粒度等級≥6級（ASTM E112），夾雜物尺寸≤5μm

5. 表面潔凈度檢測

氧化層厚度≤0.2μm,，表面粗糙度Ra≤0.8μm

檢測范圍

1. 電解精煉鎳板（純度≥99.99%）

2. 鎳基高溫合金（GH4169,、Inconel 718等）

3. 高純鎳濺射靶材（半導(dǎo)體鍍膜用）

4. 鋰離子電池鎳鈷錳三元前驅(qū)體

5. 核工業(yè)用超純鎳箔（厚度0.05-1.0mm）

檢測方法

1. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）

標準：ASTM E1479-16（痕量元素定量）

2. 輝光放電質(zhì)譜法（GDMS）

標準：ISO 22033:2021（超痕量雜質(zhì)分析）

3. X射線熒光光譜法（XRF）

標準：GB/T 223.5-2022（主成分快速篩查）

4. 惰性氣體熔融紅外法（氧氮分析）

標準：ASTM E1019-18（O、N,、H元素測定）

5. 金相顯微鏡分析法

標準：GB/T 13298-2015（晶粒尺寸與缺陷評估）

檢測設(shè)備

1. 全譜直讀ICP-OES

型號：Thermo Fisher iCAP PRO X,，檢測限0.1ppm

2. 高分辨GDMS系統(tǒng)

型號：Nu Instruments Nu Plasma III，檢出限達ppb級

3. 波長色散X熒光光譜儀

型號：Rigaku ZSX Primus IV,，分析精度±0.01%

4. 氧氮氫聯(lián)測儀

型號：LECO ONH836,，檢測范圍0.1-500ppm

5. 場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）

型號：Hitachi SU5000,，分辨率1.0nm@15kV

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)