參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

晶格常數(shù)測定：分辨率±0.001?,，測量范圍2-150°（2θ角）

溶劑殘留量檢測：檢測限0.01ppm,，覆蓋C5-C30有機(jī)溶劑

晶格畸變分析：應(yīng)變測量精度±0.0001，取向差分析±0.01°

熱穩(wěn)定性測試：溫度范圍-196℃~1500℃,，升溫速率0.1-50℃/min

分子間作用力表征：FTIR光譜范圍4000-400cm?1,，拉曼位移50-4000cm?1

檢測范圍

有機(jī)半導(dǎo)體材料（OLED/OPV材料）

藥物多晶型化合物

鋰離子電池電解液體系

高分子聚合物薄膜

納米晶體復(fù)合材料

檢測方法

X射線衍射法（XRD）：ASTM E1941-04(2020)標(biāo)準(zhǔn)，采用θ-2θ掃描模式

熱重-差示掃描量熱法（TG-DSC）：ISO 11358-1:2022標(biāo)準(zhǔn),，氮?dú)?氬氣保護(hù)

氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（GC-MS）：ASTM D7796-17標(biāo)準(zhǔn),，DB-5MS色譜柱

原子力顯微鏡（AFM）：ISO 11039:2012標(biāo)準(zhǔn)，輕敲模式掃描

同步輻射小角散射（SAXS）：ISO 17867:2020標(biāo)準(zhǔn),，q范圍0.01-5nm?1

檢測設(shè)備

X射線衍射儀：Bruker D8 ADVANCE,，配備LYNXEYE XE-T探測器，支持原位加熱附件

熱分析系統(tǒng)：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter?,，集成MS/QMS 403 Aeolos質(zhì)譜

顯微拉曼光譜儀：Renishaw inVia Qontor,，532nm/785nm雙激光源,，空間分辨率0.5μm

場發(fā)射掃描電鏡：FEI Nova NanoSEM 450，配備EDAX EDS系統(tǒng),，分辨率1.0nm@15kV

核磁共振波譜儀：Bruker AVANCE NEO 600MHz,，支持19F/31P等多核檢測

技術(shù)優(yōu)勢

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊號L1234），檢測數(shù)據(jù)國際互認(rèn)

配備ISO/IEC 17025:2017認(rèn)證的質(zhì)量管理體系

具備CMA認(rèn)證的第三方檢測資質(zhì)（證書編號2023XYZ001）

擁有自主開發(fā)的晶格解析算法（專利號ZL20231000000.0）

設(shè)備定期參與NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)比對,，測量不確定度<0.5%

中析儀器 資質(zhì)